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1.
间接耦合光电探测结构的光致负阻特性   总被引:12,自引:0,他引:12  
本文报道了间接耦合光电探测结构所产生的光致负阻现象及初步实验结果.  相似文献   
2.
介绍了内调制光敏管的可靠性试验及其失效模式和失效机理的分析。寿命试验结果表明内调制光敏管的平均寿命超过19496小时。  相似文献   
3.
介绍了内调制光敏管的可靠性试验及其失效模式和失效机理的分析。寿命试验结果表明内调制光敏管的平均寿命超过19496小时。  相似文献   
4.
介绍了内调制光敏管的可靠性试验及其失效模式和失效机理的分析.寿命试验结果表明内调制光敏管的平均寿命超过19496小时.  相似文献   
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