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应用数理统计理论及线性回归分析方法详细分析了在子孔径拼接检测中样本容量对测量精度的影响,通过计算确定了当子孔径拼接干涉检测中样本容量大于10 4时,即可保证检测精度,又能减小计算的复杂程度。 相似文献
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介绍了光学薄膜温度场的基本理论,利用交替隐型技术,对10.6μm激光辐照下介质薄膜的温度场分布进行了数值模拟和理论分析。在此基础上,利用夏克-哈特曼波前传感器对介质基底样品、不同厚度的介质单层膜样品以及不同膜系的YbF3/ZnSe介质多层膜样品在10.6μmCO2激光辐照下的热畸变进行了实验研究。研究结果表明,激光辐照下光学薄膜样品的温度场分布与辐照激光的光场分布、激光功率以及激光的辐照时间等因素有关。对于10.6μm激光而言,Ge最适宜做基底材料。 相似文献
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