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1.
Ta2O5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响
总被引:5,自引:0,他引:5
陆胜
刘仲娥
梁正书
刘凌
阴学清
《压电与声光》
2006,28(4):475-477,480
叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内杂质或缺陷处O2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点;在高电场或高温度的作用下,介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。
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