首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   45篇
  免费   3篇
综合类   28篇
无线电   20篇
  2014年   3篇
  2013年   2篇
  2012年   3篇
  2011年   6篇
  2010年   1篇
  2009年   6篇
  2008年   3篇
  2007年   7篇
  2006年   7篇
  2005年   6篇
  2002年   2篇
  2001年   2篇
排序方式: 共有48条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1.
左手材料平板波导的传输特性   总被引:2,自引:0,他引:2  
研究了无色散左手材料(LHM)作为芯层的对称三层平板波导中TE波的传输特性.研究表明,导波和表面波都可以在这种波导中传播.导波不存在TE0模式,只有TE0,TE1模式才会出现表面波.此外还发现在特定结构参数的波导中,可以存在同一阶模式的双传播模.详细分析了结构参数对这些特性的影响.  相似文献   
2.
三棱镜折射率的测定   总被引:1,自引:1,他引:0  
介绍了用分光计如何来精确地确定单色光透过三棱镜后的最小偏向状态,及最小偏向角的测量方法。并测量了不同谱线入射时三棱镜的折射率。在可见光段,其色散关系符合科希公式。  相似文献   
3.
利用单负材料设计全向滤波器   总被引:1,自引:0,他引:1  
基于法布里-珀罗腔理论,研究了由2块相同单负材料作为反射镜构成微腔结构的共振特性。若反射镜是负ε材料,在一定条件下可实现TM腔模的全向透射;若是负μ材料,则可实现TE腔模的全向透射。随着入射角的增大,全向透射谱变窄,品质因子提高。腔中介质折射率的提高,可有效缩短TM全向透射微腔结构的尺寸,但对TE全向透射微腔结构尺寸的调制就稍弱。单负材料损耗的存在,不会破坏两种微腔结构的全向共振特性,但随着入射角的增大腔模的透射率有所降低。通过优化处理给出了这两种微腔结构能实现全向透射时所需满足的各种条件,为全向滤波器的设计提供理论指导。  相似文献   
4.
为了了解对称双缺陷光子晶体的传输特性,采用传输矩阵法进行了数值模拟研究。当两缺陷层中间的介质层数目大于缺陷两外侧介质层总数时,在禁带中只出现单一的缺陷模,且其透射率随它们的差异的增大而迅速减小;但当中间的介质层数目小于两外侧介质层总数时,在禁带中将会出现两个透射率为1的缺陷模,且两缺陷模的间距随它们的差异的增大而增大。结果表明,缺陷层的位置对缺陷模的影响较大,要使缺陷层中的局域电场得到有效提高,必须使缺陷层靠近光子晶体的正中心。  相似文献   
5.
基于麦克斯韦的电磁场理论,利用传输矩阵法研究了光子晶体微腔的透射特性,并由此得到腔模随入射角的变化规律。研究表明随入射角的增大,TE、TM模的腔模均向高频方向移动,移动规律近乎一致;但是TE腔模的线宽逐渐减小,而TM腔模的线宽则逐渐增大。研究了不同偏振的腔模在光子晶体中的电场分布,随着入射角的增大,TE腔模在微腔中的电场振幅逐渐增大,而TM腔模则逐渐减小。  相似文献   
6.
一维光子晶体的全向反射特性   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用传输矩阵方法研究了一维光子晶体的全向反射特性.研究表明,光子晶体的结构参数对全向反射带的产生影响很大.要提高光子晶体的全向反射带带宽,必须增大两种介质的折射率及它们的高低折射率比值,同时使低高折射率层的光学厚度比接近0.85.研究结果对全介质反射器的设计具有指导意义.  相似文献   
7.
研究了由正负折射率介质交替排列构成的光子晶体的传输特性,负折射率材料(NIM)是有损耗的Drude色散媒质。研究发现,这类光子晶体具有零折射率带和传统的Bragg带,此外在NIM的折射率接近于零的频域还出现了一个新型的禁带——斜角带。该斜角带的位置与晶格参数无关,其带宽较小;在电磁波垂直入射时禁带消失,但随着入射角的增大禁带逐渐展宽,且TM模的带宽大于TE模。  相似文献   
8.
研究了Bragg反射镜的全反射特性和全反射时的Goos-H(a)nchen效应.在入射角不大时Goos-H(a)nchen效应不明显,且TE、TM模的特性差异很小.但在大角度入射时现象奇特,TE模的Goos-H(a)nchen效应为正,且随入射角的增大越加明显;而对TM模则会出现负的Goos-H(a)nchen效应.  相似文献   
9.
研究了由正和负两种折射率介质交替排列构成的一维光子晶体布拉格微腔的透射谱和缺陷模性质,并将传输矩阵各矩阵元在中心频率附近采用泰勒展开并取一级近似,得到了中心频率附近缺陷模的透射率公式和品质因子公式。研究结果表明:一级近似法能很好地解释由于缺陷层厚度变化而引起的中心频率附近缺陷模频率变化的规律,缺陷模品质因子公式与数值计算结果十分吻合;处于中心频率处的缺陷模具有较高的品质因子,增大缺陷层厚度和布拉格镜周期数可提高缺陷模的品质因子。  相似文献   
10.
给出了一种判断一维光子晶体禁带位置的相位图,利用扩展相位图可方便地描述光子晶体的禁带位置和禁带特征.研究发现,当光子晶体为1/4波片层堆时,光子晶体的禁带最宽;若要进一步展宽禁带,需提高构成周期单元的两种介质的折射率比.对于一般的光子晶体,若周期单元中两种介质的光学厚度不等,则其禁带中心将偏离中心频率的整数倍.此外还研究了禁带中心区的透射率,给出了中心频率附近透射率的一级近似解析解,并由此定性讨论了Fabry-Perot腔的谱线宽度和品质因子.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号