弱导光纤的标量衍射光束特性分析

仿照罗兰圆光学系统构造罗兰球光学系统 ,在罗兰球中简化电磁波的瑞利 索末菲标量衍射积分公式 ,推导出折射率阶跃分布的弱导光纤LP模衍射场分布和空间频谱的计算公式。提出LP0 1模远场衍射分布存在类似于平面波圆孔夫琅禾费衍射艾里斑的中央亮斑概念 ,并给出中央亮斑角半宽度的计算公式。     

用光谱法测试相位光栅层的厚度

按傅里叶光学,当平面波通过光栅时,不同级次的衍射角和强度由光栅而定,根据光栅的衍射频谱可以反推出光栅本身的多种信息.一个新的方法就是选用不同级次的功率谱来测量相位光栅的深度.对3块光栅进行了测试,并给出计算的光栅深度.同时给出6块光栅的测试结果--多级衍射强度,结果表明误差值不大于5%.     

照射型莫尔轮廓法

莫尔等高图是莫尔轮廓图的一种特例。文中讨论了莫尔轮廓图的矢量表达式和作为第高图的条件,给出了几种特殊配置的莫尔轮廓图的实用公式,并附有实验数据。     

偏心对光栅副性能的影响

光电编码器在计测、自控、机床、计算机、机器人等行业中有广泛应用,其核心部件是光栅副。本文对光栅副中的动光栅因偏心而带来的对精度、条纹宽度、相位变化等参数的影响作了详细的分析,可以看到偏心对这些参数有比较大的影响,因而在调整过程中,力争把动光栅中心调整得与其旋转中心同心。     

圆光栅均匀性误差研究

圆光栅均匀性误差是圆光栅质量的重要指标之一,本文详细论述了圆光栅均匀性误差,并且提出了几种减小或消除这一误差的措施。     

计量光栅的制造

一、概况自从莫尔条纹技术在计量、测定、自动控制等各个技术领域广泛应用以来,计量光栅的需要量与日俱增,精度的要求也在不断提高。于是人们对提高光栅的制作精度和效率,进行了各种试验研究,从而使计量光栅制造技术得到了迅速的发展。在50年代初,英国制造长光栅一般采用梅顿法,制得的是闪耀光栅,因而取得的光电讯号强,讯号质量好,便于电子学处理。到60年代中,由于光敏元件质量和电子插补技术的提高,因而可用黑白光栅代替闪耀光栅,这样各国较多地采用光学优生法制造照相光栅,这大大提高了生产效率,并也提高了精度。目前,由于光栅制造技术及检测方法有了     

提高梳状一维PSD性能的研究

梳状一维位置敏感探测器是一种高精度的位置敏感探测器PSD(Position Sensitive Detector).反向击穿电压是PSD器件的关键性能参数之一,目前国内的此类产品普遍存在反向击穿电压较低.为了改善PSD的技术性能,详细分析了梳状一维PSD反向击穿电压低的原因,并提出了几条有效的改进措施.     

利用Lau效应测量透镜焦距

本文介绍了利用Lau效应测量透镜焦距的方法,给出了实验原理图、计算公式以及实验数据,并提出了提高测量精度的途径。文中对Lau效应中的公式Z_0=α/β·Ρ~2/λ的系数α/β进行了探讨。认为α/β既可为其它作者所推荐的正的既约有理数,(在某些情况下)也可为任意小数,并且在该条件下尚可得到较好的满足测量要求对比的条纹。     

离子束刻蚀计量光栅的衍射现象

介绍了计量光栅经离子束刻蚀后的衍射现象,实测了刻蚀表面的形貌特征,还对这种衍射现象进行了讨论。