多线程技术在LIA中两路束流测量的实现

强流脉冲电子束作为一种高亮度的光源,具有广阔的应用前景,而双轴束流测量的控制对于研究产生电子束的加速器技术具有重要意义;利用多线程技术在CVI环境下的实现方法,研究了双路束流参数特点、双路束流测量的时序同步控制方法,在此基础上采用线程池多线程技术实现基于TCP/IP的加速器束流测量的数据采集软件;结果表明采用多线程技术可以很好地实现多任务的同时工作,有助于提高束测量的响应速度和测量的执行效率。     

相关双取样电路在降低CCD噪声中的应用

CCD器件已经广泛地应用于各个研究领域中 ,对其信号的具体处理方法是各种各样的。我们针对所研究的对象采取了一定的降低噪声的措施 ,取得了较好的结果 ,本文将对此进行阐述     

Measurement of spatial resolution of 11 MeV proton radiography

Proton radiography experiment with a Zumbro lens system was carried out on an 11 MeV proton cyclotron.The experimental results show that the image blurring is improved markedly. Clear images and good spatial resolution of the density step edges are obtained, which is important for hydrotest experiments, and the spatial resolution can achieve ~100 μm.     

CCD输出信号的低噪声处理电路研究

本文针对电荷耦合器件（CCD）输出信号需要的低噪声处理要求研究了一种高增益、低噪声的信号处理电路,指出了电路的设计难点及注意事项。     

TK512B面阵CCD相机驱动电路设计

针对512×512的TK512B面阵CCD的驱动要求,采用灵活的数字式设置方法,设计了一套驱动时序电路,并以大规模可编程逻辑器件为核心实现了电路的仿真,电路功能正确,符合各种使用要求;其数字式设置方法可为进一步扩展功能及使用单片机进行控制预留了空间。     

高速分幅相机在强流脉冲电子束调试中的应用研究

高能强流脉冲电子束的束参数测量是加速器研制及调试中必不可少的一部分,它对测量设备的要求极高,必须具有高的时间分辨能力、较高的抗干扰能力及较高的灵敏度等性能。为了满足这种要求,研制了一种新的高性能超高速的三分幅相机。该分幅相机采用一种成像质量较好的会聚光成像的全口径分光原理,再结合高速的图像增强器、科学CCD相机及大规模集成电路等技术,使其具有了快门时间和幅间时间独立控制的能力,灵活的控制方式很好地满足了调试中的各种测试要求,并且在有效像面面积达到Φ25mm的情况下可以获得约3 ns的最高快门速度以及好于35 lp/mm的像面空间分辨率,圆满地完成了强流脉冲电子束的调试工作。     

高精度PID温度控制器

介绍一种高精度的、采用 PID控制原理的温度控制器 ,给出了实验结果。这种控制器适用于小功率半导体器件的工作温度控制 ,其控制精度可达± 0 .0 5℃。     

半导体致冷温度控制器

介绍了一种半导体致冷器件的致冷温度控制方法，包括温度控制原理及控制与检测电路等。该控制器采用连续式控制方式，实际控温精度可优于±０．０８℃，并具有冷却温度预设置，上下限取警等功能。     

基于位置敏感探测器的微位移测量关键电路设计

位置敏感探测器PSD(Position Sensitive Detector PSD)具有位置分辨精度高(可达1～2μm)、输出实时性好(响应时间约几微秒)、系统简洁的特点,在位置探测及相关领域内获得了广泛的应用;但PSD的输出信号小,易受到电路噪声的影响,若要充分发挥其性能,则需要高精度、高稳定度、低噪声的测量电路。针对PSD这种较高的使用要求,通过对其等效模型的分析,找到了影响位置分辨精度的主要因素,并提出了一种新形式的测量电路,减少了测量电路级数,降低了电路的噪声以及测量电路内部的漂移,同时具有对位置测量非线性的校正功能。采用上述原理以S1880PSD建立的位置测量系统的位置分辨达到2～3μm。     

位置敏感探测器测量电路噪声分析

位置敏感探测器（PSD）的特点是位置测量分辨力高,测量装置建立简单,测量结果比较直观。对PSD测量电路等效噪声进行测试分析,获得一系列模拟结果,明确了电路噪声是影响位置测量分辨力的重要因素。以一维PSD器件S3932为例,按照建立的模拟模型,得出要获得1μm的位置分辨力,器件的工作光电流应大于7μA,该模拟结果可以作为PSD测量电路设计的一个重要参考。