聚丙烯腈基炭纤维的扫描隧道显微镜研究

用扫描隧道显微镜研究聚丙烯腈基炭纤维的表面结构以及经过电化学腐蚀、拉伸试验和高温处理后的表面变化。未处理的纤维表面由沿纤维轴向排列的宽度不等的带状细纤维组成。随着放大倍数增加，表面显得粗糙，细纤维上分布着许多小晶粒，另外，还发现了构面炭纤维的细纤维呈螺旋结构环绕、沿轴向伸长，经电化学腐蚀后，纤维内部仍存在螺旋结构，经过拉伸的炭纤维。在其临近裂的区域里，观察到扩展的孔洞及周围不均匀区。     

用电流扫描法在Si(111)-7×7表面上实现单原子操纵

本文提出用电流脉冲法在Ｓｉ（１１１）－７×７表面进行单原子操纵,用恒电流扫描的方法在Ｓｉ（１１１）－７×７表面形成纳米级沟槽结构．通过分析Ｓｉ（１１１）－７×７表面的原子结构模型指出,当线扫描的方向平行于Ｓｉ（１１１）－７×７表面的基矢方向,并且原子操纵后形成的沟槽的边界处于基矢方向上原子空位的连线时,所得到的沟槽才具有原子级平直的边界．这是在Ｓｉ（１１１）－７×７表面可能得到的最稳定的人造原子级结构,并在实验中实现了这种结构．本文对原子操纵的机理也进行了分析．     

压电陶瓷对STM图像的影响及计算机校正

在很多情况下，扫描隧道显微镜（STM）图像的几何形貌方面的误差主要是由压电陶瓷的漂移、X扫描器和Y扫描器的压电系数的不一致性和压电陶瓷扫描时的非正交性引起的。本文建立了一种物理数学模型来校正这些误差，取得了满意的结果。即使在漂移的状态下，也可以利用已知结构的表面对STM仪器进行校准（例如，高定向石墨表面）。用校准以后的STM仪器，可以获得样品表面的真实图像，并使对样品进行原子级的测量成为可能。     

纳米硅表面与界面的扫描隧道显微镜研究

本文应用扫描隧道显微镜（ＳＴＭ），对使用等离子体增强化学气相沉积法（ＰＥＣＶＤ）制备的纳米硅（ｎｃ－Ｓｉ：Ｈ）薄膜进行了研究，得到颗粒上以及颗粒间界的原子结构图像，从图像上可以得出：（１）纳米硅薄膜是由许多不同大小的颗粒所组成。这些颗粒同时又是更小的微颗粒所组成。（２）微颗粒的表面及界面原子排列可以分为四种形式；环状结构，线状结构，网装结构以及无规的随机排列。（３）观察到环状结构不仅存在于界面，而     

纳米碳管的STM研究

本文应用扫描隧道显微镜对孤光放电方法得到的纳米碳管进行了观察。孤光放电法所产物的纳米碳管以直线型为主，并且多以束状存在。碳管束直径约２０ｎｍ，而单要碳管的直径大多在２ｎｍ到５ｎｍ之间。观察到单层碳秋的原子像，其表明为石墨网络的六角结构。纳米碳管的原子像及单极碳管表面均未发现明显缺陷存在，这可能是它具有很高强度质量比的主要原理之一。