基于三层架构的高校管理系统的设计与实现

针对传统架构设计的高校管理系统存在的稳定性差、安全性差、可扩展性差等问题,开发者逐渐倾向采用分层的思想来设计该类系统。实践表明,将系统分为三层来设计对于提高系统稳定性、安全性、可扩展性等较为有效,并且可以提高代码的复用率,以及增强系统的易维护性、可移植性等。这种三层架构通常把系统分为表示层、业务逻辑层、数据访问层。     

机器人比赛中直流电机驱动电路的设计

介绍了机器人竞赛中的直流伺服电机的驱动原理和驱动方式,并详细分析了MOS管驱动电路的高速化和共态导通的防止.并给出了具体的实现.     

EDXRF无标样分析未知样品含量的算法研究

针对未知样品能量色散X射线荧光分析（energy dispersive X-ray fluorescence analysis, EDXRFA）方法开展无标样分析，通过测量Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样，得到Rh靶材原级谱中K_α峰的相干与非相干散射峰强度比值R，并建立R与对应单元素标样有效原子序数的关系，得到Z_eff-R的拟合曲线。求解未知样品基体时，测量未知样，得到其R，将R代入Z_eff-R拟合曲线得到未知样有效原子序数，再通过基本参数法迭代计算其质量衰减系数。利用Ti、Fe、Ni、Cu、Zn、Sr、Sn、Pb单元素标样刻度仪器获取G_i参数，求解未知样品基体时用于相应元素的基本参数迭代。为验证算法可靠性，采用本算法分析15个国家土壤标准样品，结果表明，Ti、Fe、Ni、Cu、Zn元素的计算含量与标准含量接近，部分低含量元素受到散射本底等因素影响，含量误差较大。结果表明，该方法能够用于现场能量色散X射线荧光分析。     

基于Matlab的IIR数字滤波器的设计

数字滤波器可靠性与精确度高,使用简单方便,与模拟设备相比具有许多其所没有的诸多优点,已经被泛地应用于各个科学技术领域。Matlab具有强大的数据处理功能,丰富的工具箱为工程计算提供的极大的方便,也已被广泛地应用于工程计算中。该文基于Matlab提出了IIR滤波器的设计方案与相关应用。     

轻型XRF分析仪在铁精矿品质快速检测中的应用

介绍了应用国产轻型高灵敏度XRF分析仪快速检测铁精矿中TFe及有害元素的技术与方法。该仪器基于新型高分辨率探测器和微机多道谱仪系统 ,具有轻便、易操作的特点 ,可同时快速测定铁矿石中TFe、Ti、V、Mn、SiO2 、Al2 O3 、S、P、K2 O、CaO的含量 ,分析检出限为 (1.0× 10 -4～ 1.0× 10 -3 ) % ,可用于铁矿石 (原矿、精矿、尾矿 )、烧结矿、铁合金等的快速检测及原矿分析。试验表明 ,本方法测定铁精矿中TFe、S、P、SiO2 、K2 O含量的平均绝对误差分别为 0 2 2 %、0 0 5 5 %、0 0 10 %、0 12 5 %、0 0 0 8% ,单样分析仅需 30 0s。     

井孔原位快速测定元素含量的井中X辐射取样技术

井中X辐射取样是一种原位的、非破坏性的和无污染的定量测定井（孔）岩矿石中元素含量（或品位）的高新技术。本文论述了该技术的基本原理、仪器设备和实用的数学模型。经铅、锌矿模型实验和野外锶矿测井试验表明：（1）井中X辐射取样技术与传统的岩芯化学分析方法具有同等的准确度；（2）井中X辐射取样技术，可在现场实施提供取样结果，其耗费的时间周期还不到传统方法的1／30     

分频电路在核电子学中的应用

在数字系统中各个模块所需的时钟频率往往各不相同,通常采用分频的方法由系统时钟得到所需频率.根据分频原理,基于SE120A芯片,提出了一种应用于核电子领域的2～64之间任意整数分频的实用电路,并对该电路进行了测试和分析,结果显示该分频电路基本无噪声,分频效果良好,稳定性好.     

蒙特卡罗模拟光子输运中截面数据的拟合

在蒙特卡罗模拟光子运输的过程中,截面一直是一个比较棘手的问题,本文用曲线拟合的最小二乘法来拟合137CS源发出的射线与NaI晶体发生相互作用时其光电截面、康普顿散射截面、总吸收系数,并模拟了137CS源在NaI探测器中的沉积谱.     

图形点阵LCD在手提式多元素X荧光仪中的应用

基于T6963C的图形点阵液晶显示器,功能低、与微机适配接口电路简单、显示方式灵活。介绍了该显示器在电致冷半导体探头手提式多元素X荧光仪应用中,汉字、下接菜单、能谱曲线等显示的编程技巧,及其与嵌入式PC104工控机的实用接口电路。     

A TOTAL CONTENT X—RAY FLUORESCENCE METHOD FOR COPPER PROSPECTING

A new method is proposed to prospect copper deposits with portable XRF analyzer. The method is based on the close relation between Cu and the chalcophile elements or some other elements in the geochemical anomalies of a Cu deposit. Applications of the technique in Northeast China are presented.