Er／Yb／Al掺杂ZnO薄膜的结构与形貌研究

采用射频磁控溅射技术在室温下Si衬底上制备了ZnO薄膜和Er／Yb／Al掺杂的ZnO薄膜。通过对XRD的结构分析表明：未掺杂ZnO薄膜沿c取向性生长,掺杂ZnO薄膜偏离了正常生长,变为（102）取向性生长的纳米多晶结构;Er／Yb／Al掺杂的ZnO薄膜的晶粒尺寸随着Er元素含量的增多而减小。经AFM对其形貌分析表明：Er^3＋、Yb^3＋、Al^3＋的掺入引起了ZnO薄膜晶格场变化,使薄膜表面粗糙度变大。     

衬底及压强对磁控溅射ZnO薄膜表面形貌的影响

在压强为0.5Pa和0.7Pa的情况下,采用磁控溅射法分别在Si及石英玻璃衬底上生长ZnO薄膜。利用原子力显微镜对ZnO薄膜的表面形貌进行观察,研究了压强及衬底对薄膜表面形貌的影响。研究表明:在Si衬底上生长的ZnO薄膜,压强为0.7Pa时比压强为0.5Pa时表面粗糙度要大;在相同溅射气压(0.7Pa)下,Si衬底上得到的ZnO薄膜质量明显优于石英玻璃衬底上的。     

利用PtOEP掺杂改善Spiro发光器件的发光效率

为了利用有机三线态发光提高有机发光器件的发光效率,用磷光材料掺杂到聚合物主体中作为发光层,制备有机电致发光器件.在测量器件的电流-电压特性、发光亮度-电压特性和电致发光谱的基础上,计算了器件的外量子效率,研究了磷光材料的掺杂浓度对器件发光效率的影响.结果表明,对特定的材料体系,适当控制掺杂浓度,可以同时观察到荧光和磷光光谱,使掺杂器件的外量子效率在纯聚合物发光器件的基础上得到明显提高.     

Brovey 融合与小波融合对QuickBird 图像的信息量影响

图像融合是解决多源遥感图像综合的最有效技术手段, 针对不同数据源选择最佳的融合方法是提高图像融合质量的关键。在分析了Brovey 融合和小波融合的理论、算法和融合过程的基础上,对QuickBird 的全色波段图像和多光谱波段图像数据进行融合实验, 然后从定性和定量两个方面对融合效果进行了分析与评价。定性分析是从色调、纹理和清晰度等方面进行分析, 而定量分析是根据熵、平均梯度和光谱真实性等指标进行分析, 实验结果表明: 在处理QuickBird 遥感图像时, 采用小波融合的图像既保持了较高的空间分辨率, 又具有较好的光谱特性; 而采用Brovey 融合的图像虽然图像空间分辨率也较高, 但光谱信息丢失较大, 因此Brov ey 融合方法并不适用于处理QuickBird 遥感图像。     

Spiro发光双层结构有机电致发光器件

为了研究简单结构有机电致发光器件的发光性能，采用PEDOT：PSS作为空穴输运层，Spire作为电子输运层和发光层，以金属Ba覆盖以金属AI作阴极，制备双层结构有机电致发光器件，得到性能稳定的蓝色发光。测量器件的电流密度-电压特性、发光亮度-电压特性和电致发光谱，计算了器件的外量子效率。结果表明，器件电流以陷阱电荷限制电流为主，最大发光亮度为3544cd/m2，最大外量子效率达2．40％。     

4S技术与公安预警信息系统

社会治安环境的复杂性为公安部门的执法行动带来了很大困难。为维护社会的长治久安,应提倡科技兴警。基于地理信息系统、遥感、全球定位系统以及决策支持系统的公安预警信息系统,可以极大地改善公安机关的快速反应能力、出警的准确性和破案效率。重点介绍了基于上述技术的公安预警信息系统的构成及其主要功能。     

利用有机三线态发光的相关问题研究

为了提高有机电致发光器件（OLED）的量子效率,对75%的通常认为是无效激发的三线态激子的利用,成为近年来OLED研究中广受关注的课题。磷光材料在发光过程中可以同时利用单线态和三线态激子,理论上内量子效率可以达到100%,因而这类材料的使用成为提高器件效率的主要途径之一。本文介绍了利用有机三线态发光的有关概念、原理,并就磷光材料的物理掺杂,化学嫁接、能量转移和磷光淬灭等问题,阐述了该领域的研究概况。同时指出,尽管三线态发光材料及器件的性能还存在许多问题,但有机材料灵活的可修饰性赋予研究人员广阔的设计空间,高效率的三线态发光OLED器件的开发将大有可为。     

随机散射屏的散斑自相关函数的测量

利用Al2O3粉末研磨的全息干版玻璃作为散射屏,根据理论分析和实验研究,对散斑光强的自相关函数进行了测量.对实验结果分析,散斑的自相关函数随着散射屏粗糙度的变化发生规律性的变化.即当散射屏粗糙度改变时,散斑颗粒(自相关函数的第一个极小点所对应的相关间隔)的平均大小、散斑的自相关函数曲线的下降趋势和散斑自相关函数在大的相关间隔处的渐近值等都按一定的规律变化.实验结果为随机表面统计模型的提出和进一步的理论分析提供了依据.     

SLM相位调制特性对产生光学涡旋的影响

利用基于空间光调制器(SLM)的动态全息技术,能够产生高轨道角动量的光学涡旋,在光学微操纵中具有更大的优势.针对动态全息技术产生的光学涡旋存在强度调制这一现象进行了研究,通过分析SLM的相位调制机制,主要讨论了SLM的相位调制范围对产生光学涡旋的影响,结果表明:SLM的相位调制范围偏离理想值是产生光学涡旋存在强度调制的原因;SLM相位调制范围与产生的光学涡旋场强度对比度在一定范围内基本成线性关系.对光学涡旋场的最大、最小强度变化情况也做了讨论.