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本文说明模拟电路结构化可测性设计(DFT)的原则,同时介绍了两个可测性设计结构。这些原则和结构可以作为数模混合测试总线标准IEEE P1149.4的基础。 相似文献
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戴昌培 《计算机测量与控制》1996,(4)
文章概述了周期产生器的主要性能指标,介绍了加(减)计数法周期产生的原理,提出了提高周期产生器工作速率的方法。介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法,分析了可控振荡法、软件累加法、硬件累加法构成高分辨力周期产生器原理。最后评价了周期产生器的应用。 相似文献
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基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。 相似文献
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戴昌培 《计算机自动测量与控制》1996,(4):19-26
文章概述了周期产生器的主要性能指标,介绍了加(减)计数法周期产生的原理,提出了提高周期产生器工作速炫的方法,介绍了以粗精组合方法提高周期分辨力的方法,分析了可控振荡法,软件累加法,硬件累加法构成高分辨率周期产生器原理,最后评价了周期产生器的应用。 相似文献
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