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智能BIT概念与内涵探讨 总被引:6,自引:0,他引:6
进20年来,机内测试(Built-in Test,BIT)技术从理论到应用取得了显著进展,已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径,并大量应用于大型军用装备、航空航天系统当中。该文首先概要分析了BIT 应用中出现的各种问题和智能BIT概念的提出过程,在综合国内外相关研究的基础上,提出了智能BIT的初步概念,并详细分析了智能BIT的主要内涵和研究内容,最后讨论了智能 BIT在 BIT智能化设计、检测、诊断、决策 4个方面的应用价值和潜力。 相似文献
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机内测试技术发展趋势分析 总被引:8,自引:0,他引:8
近20年来,机内测试(BIT,Built-In Test)技术从理论到应用取得了显进展,已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径,并大量应用于大型军用装备、航空航天系统当中,应用范围正进一步扩展到民用大型复杂设备。本从BIT与ATE的日渐融合、机电BIT发展方向、BIT发展为集状态监控、故障诊断、控制决策于一体的综合系统、智能理论与技术在BIT中的应用等4个方面详细分析了BIT理论与技术的发展趋势,对我国相关领域特别是军事工业领域BIT的深入研究与应用具有一定参考价值。 相似文献
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机内测试虚警原因的分析及其解决方案 总被引:6,自引:0,他引:6
按照机内测试(BIT)的设计、生产、运行和维修这个设备寿命周期的时间历程,对BIT各个阶段的虚警原因进行了总结,并针对BIT各阶段的虚警原因,从BIT设计、BIT硬件、BIT软件、管理与人和环境因素等五个方面提出了一个较为系统和完整的BIT虚警问题解决方案,这为武器装备的测试和维修的深入研究打下了基地,对BIT的广泛应用具有指导意义。 相似文献
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计算机辅助测试性设计中的测试性改善最大化问题研究 总被引:1,自引:0,他引:1
基于边界扫描的计算机辅助电路板测试性设计中,面临着“设计复杂性一定时,如何权衡设计使得测试性改善最大”的问题。文章首先建立了该问题的数学描述,然后提出了求解问题的优化算法。仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案。 相似文献
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基于ART Ⅱ信息融合的BIT虚警识别 总被引:1,自引:0,他引:1
恶劣环境是电子设备BIT运行过程中出现虚警的重要原因,由于样本获取困难,无导师学习神经网络得到广泛重视。本文提出采用ART Ⅱ网络对电子设备BIT输出信息和环境应力信息进行融合,自适应识别BIT状态模式,实验证明ART Ⅱ网络能准确识别BIT状态,滤除虚警。 相似文献
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