IEEE1394：未来总线

IEEE1394是一种串行总线标准,它通过提供一个高带宽、易使用和低价格的接口,将电脑与电脑外部设备、各种家用电器连接起来。文章主要介绍了IEEE1394总线标准,着重分析了IEEE1394电缆和接头、体系结构、性能特点等,探讨了IEEE1394在数字视频、海量存储、家庭网络和无线通讯等领域的应用,最后指出了IEEE1394未来发展趋势。     

千兆以太网卡芯片A/D转换电路的设计与实现

介绍了一种用于千兆以太网卡芯片的8位125 MS/s CMOS流水线A/D转换电路的设计,包括体系结构设计、电路设计与仿真、版图设计。该A/D转换电路经过TSMC 0.13μm 1P8MCMOS工艺验证,工作电压为1.5 V/2.7 V。芯片测试结果表明,设计的A/D转换电路能够满足千兆以太网卡芯片的性能要求。     

小波分析方法在磁光记录薄膜基本特性分析中的应用

利用小波分析方法取代传统的傅立叶方法对微弱的磁光记录薄膜信号进行分解、滤波和局部信号处理,大大提高了测量的灵敏度,更好地分析了磁光记录薄膜的基本特性。     

MATLAB在磁光记录薄膜温度特性研究中的应用

简要介绍了MATLAB软件及其主要特点,讨论了磁性材料的温度特性及其测量方法,重点分析了MATLAB在磁光记录薄膜温度特性研究中的应用：通过插值方法用已知实验数据点估算新的数据点,应用MATLAB数学函数求解磁光记录薄膜各功能层的居里温度。本文的具体实例表明,在磁学研究中使用MATLAB可以提高实验效率。     

光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法

采用ＦＦＴ方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦,得到各单层薄膜在耦合状态下的特性,并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能σω。     

光调制直接重写磁光双层耦合膜磁基本特性的一种解耦方法

采用FFT方法对光调制直接重写磁光双层耦合膜的磁基本特性进行解耦,得到各单层薄膜在耦合状态下的特性,并用于分析计算磁光双层耦合膜之间的层间耦合能。     

一种提高识别矫顽力精度的方法

当软磁材料的矫顿力低于几十奥斯特,甚至十以下奥斯特时,用能产生上万奥斯特外加磁场的VSM去测量时,其精度会受到一定的限制。如果采用一个合适的滤波器处理使外加磁场信号H和磁化强度信号M有一个合理的相位差,那么可以避开因零点附近的噪声对矫顿力估算精度的影响。     

一种快速以太网卡芯片时钟恢复电路

提出了一种快速以太网卡芯片时钟恢复电路的设计 ,包括体系结构、用于 10 0BASE TX的改进MuellerMuller算法、用于 10 0BASE FX的鉴相器以及产生多相时钟的电荷泵锁相环。该时钟产生电路经过TSMC 0 .35 μm1P5MCMOS工艺验证 ,工作电压为 3.3V。实验结果表明该时钟恢复电路能够满足以太网卡芯片的要求。     

光调制直接重写磁光多层膜的制备及其性能研究

本文研究了光调制直接重写磁光多层膜的制备及其磁与磁光特性。成功研制了满足光调制直接重写要求的不同居里温度的磁光存储介质。     

片上系统中的I P复用

IP（Intellectual Property)复用技术是提高片上系统设计效率、缩短设计周期的一个关键。本文简要介绍了IP产生的原因、IP的概念与分类,分析了可复用IP的设计流程及相关工具,探讨了片上系统设计中的IP复用以及当前面临的主要问题,最后指出了IP的市场前景和未来发展趋势。