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1.
红外系统的探测距离除了受探测器本身系统的制约之外,还受到目标辐射、背景辐射和大气传输等因素的影响。针对红外系统接收的弹丸相对辐射,提出一种新的红外系统探测距离计算模型,该模型考虑了红外系统接收弹丸辐射的等效面积辐射、弹丸周围一定范围内的等效背景辐射和大气对弹丸辐射的衰减换算。在飞行弹丸表面辐射计算的基础上,推导出新的红外系统对弹丸的探测距离计算方程,并对其进行仿真分析。  相似文献   
2.
红外系统捕获飞行弹丸时,必须保证该系统对飞行弹丸的作用距离大于弹丸到红外系统的距离,分析了传统的红外系统作用距离计算公式,考虑了弹丸在飞行过程中与红外系统之间的距离会随着飞行时间变化,而红外辐射在大气中的衰减随着波长和传输距离不同而变化,因此红外系统接收到的弹丸辐射会在弹丸飞行过程中随着时间而变化;同时考虑到弹丸在飞行中系统接收的红外辐射受天空背景影响和弹丸截面等效面积的辐射影响,从而重新提出了红外系统的作用距离模型。在简单弹道模型的基础上,计算并分析理论飞行距离与系统作用距离相互影响的关系,获得红外系统对弹丸发射过程捕获的最佳位置,为红外系统探测飞行弹丸的地点选取提供理论依据。  相似文献   
3.
指数掺杂透射式GaAs光电阴极表面光电压谱研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
通过求解一维稳态少数载流子扩散方程,推导了指数掺杂和均匀掺杂的透射式GaAs光电阴极表面光电压谱理论方程。利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)外延生长了发射层厚度相同、掺杂结构不同的两款透射式阴极材料。通过表面光电压谱实验测试和理论拟合发现指数掺杂结构在发射层厚度和后界面复合速率相同的情况下能够有效提高阴极电子扩散长度,这主要由于内建电场能够促使光生电子通过扩散和电场漂移两种方式向表面运动,从而最终提升阴极的发射效率和表面光电压谱。利用能带计算公式和电子散射理论对这两种不同结构材料的表面光电压谱进行了详细分析。  相似文献   
4.
多碱光电阴极多信息量测试技术研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
阐述了多碱光电阴极的单色光反射比、单色光电流和光谱响应曲线的测试原理,这些参量的获得对分析、指导阴极工艺是很有价值的。介绍了多碱光电阴极多信息量测试系统,该系统可在多碱光电阴极制备过程中在线测试、处理多碱阴极的单色光反射比、单色光电流和光谱响应曲线等参量,还给出并分析了在该系统应用中玻璃阴极实验管制备过程中的测试结果。  相似文献   
5.
本文介绍了一种便携、升降温速度快、准确度高、控温温场稳定、控温范围宽、高智能化干井式温度校验仪的组成结构和设计思想以及控温策略等,并利用微机软件对控温效果进行了评估.  相似文献   
6.
研究了非制冷热成像系统功耗产生的主要原因,提出了一种具有低功耗特点的多工作温度热成像系统。从非晶硅焦平面阵列探测器噪声等效温差和探测率的计算公式入手,分析了非晶硅焦平面阵列探测器响应特性与工作温度的关系。数值分析显示,在- 40℃~60℃工作温度范围内,非晶硅焦平面阵列探测器具有一致性的响应性能,这为设计多工作温度热成像系统奠定了理论基础。对所设计的多工作温度热成像系统测试结果:在- 40℃~60℃环境温度范围内,热电稳定器的功耗小于350 mW,噪声等效温差小于120 mK.这表明该热成像系统既具有稳定的成像质量,又具有较小的系统动耗。  相似文献   
7.
头盔式双目微光夜视仪研制   总被引:3,自引:0,他引:3  
介绍了头盔式双目激光助视/微光夜视仪的设计,它是由激光助视系统,特种光学镜头,高性能微光像增强器组成的主被合一的新型激光夜视仪器.与以往的国内的夜视眼镜相比,它以非球面物镜以及助视功能为特色,以双管高性能超二代像增强器为核心,参照了国外的最新的头盔微光夜视仪的光学系统数据,灵敏度高,图像清晰,并适于头戴和手持两用,其探测阈值延伸到10-3lx以下,改变了目前大多数的微光夜视仪器固有的缺陷,使得在任何恶劣的条件下也可以正常工作.  相似文献   
8.
亮度增益和等效背景照度是衡量像增强器性能的两个重要参数,针对这两个参数的测试要求,阐述像增强器亮度增益和等效背景的测试原理和测试仪的结构设计。利用研制的测试仪对多种型号的像增强器的亮度增益和等效背景照度进行了测试,给出并分析了测试结果。结果表明,本测试仪的结构设计是合理有效的。  相似文献   
9.
介绍了在一代象增强器多碱阴极制备过程中,对光学反射率进行连续监控的装置,并对试验结果作了简单的分析。研究结果表明,Na2KSb材料在制备过程中是逐层生长的,在锑、钾交替过程中,其化学置换反应仅发生在表面层一定的厚度内。多碱阴极的实测反射率曲线越接近理论曲线,其灵敏度也越高。多碱阴极膜层厚度的增加,可以导致其长波响应的增加。对一代象增强器而言,多碱阴极的最佳厚度约为120nm。  相似文献   
10.
实时测量器件中光学薄膜厚度的新方法研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
从薄膜光学理论出发,阐述了利用光学反射比实时测量特种器件中光学薄膜厚度的原理,介绍了测试仪器,分析了测试结果。在已知基底的折射率,光学薄膜的折射率,消光系数及入射光波长的情况下,可计算出光学薄膜的反射比随厚度变化的理论曲线,实验曲线与理论曲线相比较,可实时获得薄膜的厚度信息,这对控制薄膜工艺很有益处。  相似文献   
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