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闪存容量的增大使在其上构建大型系统成为可能,如何构建闪存数据库也成为数据库的热点研究领域之一。索引结构是数据库中必不可少的结构之一,而B+树是最广泛使用的索引结构。这里对存储在闪存芯片模拟器及固态硬盘上的B+树性能进行了测试及分析。首先介绍了闪存的IO特点,并测试了固态硬盘的基本IO特性。接着,对B+树的插入和查询效率进行了详细地测试。测试发现节点大小,缓存大小,以及数据值的分布方式都会对B+树的性能带来很大影响。例如由于闪存的读取速度不对称,闪存的更新和查询操作最优块大小相差较大。这些测试结果为更好地在闪存上使用B+树索引,并进一步设计出更适合闪存的索引提供了指导。 相似文献
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随着闪存容量的不断提升,技术的不断成熟,闪存数据库成为数据库的热点研究领域之一.了解闪存的IO特性,以及现有数据库产品在闪存上的性能瓶颈所在是闪存数据库设计改进的首要一步.目前广泛使用的是由闪存制造的固态硬盘,而固态硬盘与闪存芯片的特性又有很大不同.首先测试了固态硬盘的基本IO特性,接着使用TPC-B标准对部署在固态硬盘上的通用数据库产品进行了评估.分析了缓冲区大小、CPU处理能力、用户并发数等对基于闪存数据库性能的影响.最后,结合测试结果,从数据组织、数据库资源利用等多方面给出优化建议. 相似文献
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