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龙芯3号是一款低功耗处理器芯片,要求测试时保持较低功耗.为了解决低功耗测试的问题,对龙芯3号测试功耗进行了细致分析,提出一套考虑测试时间和测试开销的低功耗测试方案,并对整套方案中的各种技术在功耗、面积、时延以及测试时间等方面进行了详细分析.针对龙芯3号测试功耗主要消耗在逻辑电路的翻转和测试时钟网络上的特点,采用IP级测试分割技术减少逻辑电路和时钟网络的翻转;采用门控时钟对局部扫描触发器进行控制减少单核扫描捕获期间的逻辑翻转,并采用了阻隔门技术、不关心位(X位)填充技术减少单核扫描移位的逻辑翻转.实验结果表明,龙芯3号4核处理器达到了预定小于15W的测试平均功耗需求,单个IP核最大平均功耗降低为6W左右,约是正常功能平均功耗的40%,有效地保证了芯片的测试质量. 相似文献
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光流(optical flow)为同一对象在视频中运动到下一帧的移动量.从视频中估计光流已广泛应用于各类移动智能系统,如运动估计和机器人导航.最近的研究表明,卷积神经网络(convolutional neural network,CNN)能提供可靠的光流估计结果.然而,现有的硬件加速器无法支持面向光流估计的CNN复杂计... 相似文献
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集成电路设计进入深亚微米阶段后,静态功耗成为低功耗设计中的一个瓶颈.电源门控法可以同时有效地降低动态功耗和静态功耗,是一项具有广阔应用前景的技术.电源门控电路的最大电流是由最大开启电流和最大的正常运行电流决定,它是电路设计的一个十分重要的参数,如何对它进行快速准确的估计已经成为一个新的问题.另外,冒险功耗是电路整体功耗中非常重要的组成部分,该文通过研究发现,在电路开启阶段同样存在冒险,同时消耗了大量的能量.文章考虑了组合电路的冒险现象,提出了一种基于遗传算法的最大开启电流的估计方法,对ISCAS85电路的实验结果表明,电源门控电路的开启最大功耗可能比正常情况下的最大功耗还要大.该文的方法具有较小的复杂性,可以仅用随机模拟的2.77%的时间,获得12.90%的最大开启电流值增量。 相似文献
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为了解决芯片测试过程中功耗密度大造成的局部过热(简称"热斑")问题,提出一种热量敏感的多播并行测试方法.对众核芯片采用多播并行测试时面临的"热斑"问题进行分析,提出一种无"热斑"的多播测试路径生成算法;在温度容限内对生成的多条单类同构芯核多播测试路径进行并行优化,形成无"热斑"的快速并行测试方案,同时缩短了测试时间.实验结果表明,采用文中方法能够有效地避免多播并行测试时的"热斑",并使测试时间缩短近45%. 相似文献
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提出一种新颖的频率分析方法来计算瞬时错误在组合逻辑电路中的传播.通过对输入信号进行傅里叶变换,分析组合逻辑电路的频率特性,并通过频域计算方法得到组合逻辑电路的输出.为了解决组合逻辑电路有时会工作在信号非线性区的问题,提出一种数学模型来精确描述瞬时错误在组合逻辑电路中传播过程.实验结果表明,该方法能保证在93%的平均精确度(和HSPICE相比)前提下,大幅提高评估速度. 相似文献
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在片上网络NoC( Network-on-Chip)中,通过光通信取代传统的电信号传精来获得低延时、低功耗成为一种新兴的研究方向—光五连片上网络ONoC(Optical Network-on-Chip)本文提出一种全新的双向传输的波长路由片上网络,这种新的结构对调制好的光信号的波长进行判断来实现在网络节点之间的路由,同时还能够通过器件和传输通道的共享实现数据的双向传输.和传统的电信号传输网络相比,本文提出的双向传输结构减少了50%的硬件开销和70%的芯片面积开销,提高了器件利用率,降低了网络传输延时,极大地提高了网络传精性能,对于光互连片上网络具有重要意义. 相似文献
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嵌入式移动便携设备由电池供电,而电池容量却受体积和重量的制约,因此嵌入式移动设备的功耗问题成为研究的一个关键问题。分别采用WIFI和GPRS两种接入网络策略,研究手机系统功耗的变化。实验结果表明,小流量模式(10kb/min)下两种策略电池使用时间减少约50%,大流量模式(2Mbit/min)下能量消耗更快,减少约85%;在传输相等的数据量下,WIFI模式比GPRS模式省电。在两台基于Android系统平台的真机上进行了实验,结果表明,研究降低手机移动网络模块的功耗具有十分重要的意义。 相似文献
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SOC可测试性设计与测试技术 总被引:19,自引:0,他引:19
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 相似文献