器件充电放电模式的静电防护

由于其他的失效ESD模式的解决,近几年集成电路的生产中,CDM失效的问题愈加突出.介绍了CDM原理及分类,主要探讨了器件静电放电(ESD)防护设计和CDM防护(环境、包装、操作等)的方法.     

DL/1联机数据库汉字查询系统的实现

本文介绍DL/1数据库联机汉字查询系统的一种实现方法及其在IBM 4331机和IBMPC微机型组成的远、近程终端网上的实现过程。     

集成电路锁定效应和试验方法标准研究

针对CMOS集成电路的锁定效应,论述集成电路锁定效应的产生机制和失效机理,对目前国际上各大标准化组织发布实施的锁定试验方法标准进行对比分析,详细阐述JEDEC的JESD 78号标准的技术内容,包括试验分类、试验程序、试验方法、DUT偏置条件、脉冲触发条件、失效判据和抽样要求。