RuO4对尼龙6的染色机理研究

四氧化钌作为用透射电镜观察高分子材料时对聚合物多相体系进行选择性染色的染色剂之一，克服了四氧化锇染色的局限性，能对多种聚合物进行染色。四氧化钉对大多数聚合物都能染色，但人们至今对其染色的反应机理还不十分清楚，而关于此方面的报道也较少。前人曾就四氧化钉对聚苯乙烯（PS）、聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）、聚对苯二甲酸丁二醇酯（PBT）、聚碳酸酯（PC）的染色机理进行过研究，本文探讨了四氧化钌对尼龙6的染色机理。     

XRD与TEM技术在分析纳米金属晶粒尺寸中的应用

介绍利用（α-石英作为标样来消除X射线衍射过程中仪器因素引起的X射线衍射峰宽化的方法，给出了（α-石英（110）和（223）衍射的仪器因子校正曲线．利用该曲线计算出了纳米不锈钢粉末烧结试样的平均晶粒度．通过和透射电镜观察统计的晶粒度进行比较，发现两者最终得到的晶粒度仅相差5％左右，说明使用这两种方法都能较为准确的计算出纳米材料的晶粒度．     

透射电子显微镜在失效分析中的应用

本文通过对失效实例分析,说明具有分辨率高、放大倍数大、图象清晰,并能进行电子衍射结构分析的透射电子显微镜,在失效分析中能发挥独到的作用,是失效分析中不可缺少的一种重要手段。     

光纤中二次谐波的产生及机理的电镜分析

本文报导了石英光纤中的二次谐波产生及用透射电子显微镜观察光纤内部物质结构变化的实验结果,观察到了已“预置”光纤中缺陷的存在.     

分子束外延CdTe（211）B／GaAs（211）B的特性研究

ＣｄＴｅ／ＧａＡｓ是ＨｇＣｄＴｅ分子束外延的重要替代衬底材料。用Ｘ双晶衍射和光致发光测试研究了分子束外延生长的ＣｄＴｅ（２１１）Ｂ／ＧａＡｓ（２１１）Ｂ的晶体结构质量，表明外延膜晶体结构完整，具有很高的质量。用高分辨率的透射电镜研究其界面特性，观察到ＣｄＴｅ（２１１）Ｂ相对于ＧａＡｓ（２１１）Ｂ向着［１１１］方向倾斜一个小角度（约３°），界面的四面体键网发生扭曲，由于晶格失配，在界面存在很高的失配位错密度。用二次离子质谱分析仪分析了ＧａＡｓ衬底中的Ｇａ和Ａｓ向ＣｄＴｅ外扩散的情况。结果表明：如果要在ＧａＡｓ衬底上生长ＨｇＣｄＴｅ外延膜，必须先生长一层具有一定厚度的ＣｄＴｅ来阻止Ｇａ和Ａｓ向ＨｇＣｄＴｅ的外扩散和失配位错的延伸。     

新型三元互穿聚合物网络阻尼材料的研制

采用平衡溶胀工艺,合成了具有宽温域、高阻尼值的新型三元互穿聚合物网络.透射电镜证明了乳液交联反应的发生和互穿网络的结构.分别通过对乳液及乳胶膜性能的测试和比较,发现三元互穿聚合物网络相容性和阻尼性均优于二元互穿聚合物网络.     

共沉淀法制备纳米氧化镁的研究

以氯化镁与碳酸钠为原料,采用共沉淀法,研究了反应溶液的pH值、反应物浓度、反应温度、反应时间和煅烧温度对制备纳米氧化镁粉体的影响,通过透射电镜(TEM)、X射线衍射(XRD)、热重分析(TG)对样品的性能进行测试,获得纳米氧化镁平均粒径约12 nm,且分布较均匀.