固溶体及其应用

固溶体也称固态溶液,即一种物质(溶质)的质点溶于另一种物质(溶剂)形成单一、均匀的固相体系。它普遍存在于无机固体材料中,材料的物理化学性质随着固溶程度的不同可在一个较大范围内变化。现代材科研究经常采用生成固溶体来提高和改善性能。在功能材料、结构材料中都离不开它,它的应用越来越广泛。固溶体现已成为材料科学工作者研究的重要课题。     

短周期超晶格AlP／GaP能带结构的转变及其带间的光跃迁

介绍了间接跃迁的半导体ＡｌＰ与ＧａＰ形成的超晶格，由于零折叠效应，实现了能带由间接带隙向直接带隙的转变，从而增加了带间的光跃迁几率，并推导了该几率的表达式。     

超声波流量计标定常数的修正

超声波流量计现已得到了较广泛的应用。它不妨碍流动地测量流速，只要能传播超声波的流体皆可以使用，它可以测量高粘度液体、非导电性液体或者气体，而且不管被测对象多大，例如河流也可用它来测量其流速，特别是超声波可在金属管道外测量管道内流动的液体流速，具有不用对原管进行任何加工就可实施流量测量的特征，这些都是其它测量方式所不具备的，因此应用范围越来越宽。我厂三座加热炉燃料是用重油或渣油，过去曾使用旋转活塞式流量计，椭圆齿轮流量计进行计量，常由于燃料油粘度大、杂质多而被堵死或卡死，不能正常运转，由此增加了维…     

介电多层膜与人工介电超晶格的研究

近年来，铁电薄膜制备技术的迅速发展使得人工介电超晶格的生长成为现实。简要介绍了有关介电多层膜和人工介电超晶格的制备、结构和性能的研究状况，讨论了进一步研究需解决的问题。     

锑及金锑矿化形成的物理化学条件

采用溶解度法确定了锑的硫氢络合物形成常数,获得了这些络合物形成常数的温度关系方程式。首次系统测定了锑及金锑矿化脉石矿物流体包裹体中硫化物硫、锑和金浓度。阐明了金锑共同迁移条件下,锑在金迁移和沉淀过程中所起的作用。     

Design and Manufacture of GeSi/Si Superlattice Nanocrystalline Photodetector

According to Maxwell＇s theory, the optical transmission characteristics in GeSi/Si superlattice nanocrystalline layer have been analyzed and calculated. The calculated result shows that when the total thickness L is 340 nm, the single mode lightwave can be transmitted only at periodic number M≥15.5. In addition, at the direction of transmission, when the transmission distance is larger than 500 μm, the lightwave intensity is decreased greatly. Based on the above parameters, the design and manufacture of GeSi/Si superlattice nanocrystalline photodetector are carried out.     

纳米超晶格热电材料的研究进展

随着热电材料制备技术和性能研究的发展，纳米超晶格热电薄膜已受到人们的关注，简要介绍了有关纳米超晶格热电材料的结构、热电机理及制作技术，并指出了存在的问题和可能的发展方向。     

氟化物的水热合成及其VUV发光性能

以中温水热法合成了NH4Y3F10，YF3，LiYF4等晶体氟化物及其荧光粉NH3Y3F10：Eu^3 LiYF4:Tb^3 ，并讨论了水热合成条件。用X-ray粉末衍射确定了物象，并用PowderX计算机软件进行了指标化，确定了晶格参数。还测定了NH4Y3F10：Eu^3 和LiYF4：Tb^3 荧光粉的VUV或UV光激发的激发光谱和发射光谱。     

In_xGa_(1-x)As/GaAs应变超晶格的电子结构

用有效质量理论研究了[001]和[111]方向生长的In_xGa_(1-x)As/GaAs应变超晶格的电子结构.具体计算了价带能级的色散曲线和光吸收曲线.沿[001]方向生长的光吸收曲线与实验进行了比较.内应变使重轻空穴能级发生上升和下降.由于压电效应,[111]方向生长的超晶格应变层内存在很强的内电场(1.5×10~5V/cm),而对[001]方向生长的应变超晶格不产生内电场.     

精确测定低对称晶系多昌材料点阵常数的X射线衍射方法

点阵常数是多晶材料的重要物理参数之一，陶瓷材料多数属非立方晶系化合物，研究低对称晶系点阵常数的测定方法和提高精度的途径对材料研究有重要的意义，本文提出了联立方程法、联立方程外推法、最小二乘法、最小二乘外推法、线对法、线对最小二乘法等六种测定方法和稳定性判 法、抛弃 平均法、最小二乘判法等三种数据处理方法及其适用条件、用本文的测定低对称晶系多晶材料点阵常数的方法可以得到较精确可靠的结果。