| 基于遗传算法的BSIM SOI模型参数提取 |
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| 引用本文： | 李瑞贞,韩郑生.基于遗传算法的BSIM SOI模型参数提取[J].半导体学报,2005,26(8):1676-1680. |
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| 作者姓名： | 李瑞贞 韩郑生 |
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| 作者单位： | 中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029 |
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| 摘 要： | 提出了一种提取BSIM SOI模型参数的新方法，该方法基于遗传算法和局部优化法的结合，同时具有全局优化和局部优化的优点，提取的参数物理意义明确，并且容易得到全局最优解．该方法计算简单，不需要对模型进行深入了解和丰富的参数提取经验，易于推广使用．对用该方法得到的SOI模型进行了模拟，并将模拟结果与1.2μm CMOS/SOI测试结果进行对比，二者吻合很好，SOI器件特有的kink效应也得到了很好的拟合．
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| 关 键 词： | 遗传算法 SOI 参数提取 |
| 文章编号： | 0253-4177(2005)08-1676-05 |
| 修稿时间： | 2004年12月4日 |
Model Parameters Extraction of a BSIM SOI Model Based on the Genetic Algorithm |
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| Li Ruizhen,Han Zhengsheng.Model Parameters Extraction of a BSIM SOI Model Based on the Genetic Algorithm[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(8):1676-1680. |
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| Authors: | Li Ruizhen Han Zhengsheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | genetic algorithm SOI parameter extraction |
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