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离子注入水平扫描均匀性控制算法
引用本文:龙侃,罗超,刘昌鑫.离子注入水平扫描均匀性控制算法[J].微纳电子技术,2011,48(4):269-273.
作者姓名:龙侃  罗超  刘昌鑫
作者单位:井冈山大学计算机科学系,江西吉安,343009
基金项目:江西省教育厅科学技术研究资助项目(GJJ08417)
摘    要:为提高离子注入工艺中水平扫描输入剂量的均匀性,研究了离子束水平扫描速度对各处注入剂量的影响规律,建立了水平方向注入剂量分布曲线的数学模型。通过简化离子束斑轮廓,提出了一种实用的离子注入水平扫描均匀性控制算法,实际校正过程要经过多次循环,才能使离子注入水平扫描的均匀性收敛到目标范围内。在离子注入工艺中,利用该算法对束线水平扫描均匀性成功进行了校正实验,校正前的水平扫描均匀性为10%,经过5次校正,水平扫描均匀性达到1%,比校正前提高了一个数量级,验证了这种算法的可行性与有效性。

关 键 词:离子注入  扫描  均匀性  算法  束流

Controlling Algorithm of the Horizontal Scanning Uniformity in Ion Implantation
Long Kan,Luo Chao,Liu Changxin.Controlling Algorithm of the Horizontal Scanning Uniformity in Ion Implantation[J].Micronanoelectronic Technology,2011,48(4):269-273.
Authors:Long Kan  Luo Chao  Liu Changxin
Affiliation:Long Kan,Luo Chao,Liu Changxin (Department of Computer Science,Jinggangshan University,Ji'an 343009,China)
Abstract:In order to improve the implantation dose uniformity of the horizontal scanning in ion implantation process,the influence of the horizontal scanning speed on the implantation dose was investigated,and the mathematic model for the distribution of the horizontal implantation dose was built.By simplifying the ion beam configuration,a practical controlling algorithm of the horizontal scanning uniformity in ion implantation was presented.Several correcting cycles are necessary in practice to realize the target u...
Keywords:ion implantation  scanning  uniformity  algorithm  beam current  
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