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SiC掺杂对MgB2/Fe超导线材临界电流密度和显微结构的影响
引用本文:许红亮,冯勇,徐政,曹烈兆,李晓光,刘竞艳. SiC掺杂对MgB2/Fe超导线材临界电流密度和显微结构的影响[J]. 功能材料, 2005, 36(7): 1021-1023
作者姓名:许红亮  冯勇  徐政  曹烈兆  李晓光  刘竞艳
作者单位:1. 同济大学,材料科学与工程学院,上海,200092;西北有色金属研究院,陕西,西安,710016;郑州大学,材料科学与工程学院,河南,郑州,450002
2. 西北有色金属研究院,陕西,西安,710016
3. 同济大学,材料科学与工程学院,上海,200092
4. 中国科学技术大学,物理系,安徽,合肥,230026
5. 中国科学技术大学,材料科学与工程系,安徽,合肥,230026
基金项目:国家高技术研究发展计划"863计划"资助项目(2002AA306251);国家自然科学基金资助项目(50172040,50377040)
摘    要:
利用原位粉末套管法制备出SiC微粉掺杂的MgB2-x(SiC)x2/Fe(z=0.00、0.05、0.10、0.20)超导线材。在750℃,流通高纯氩气的条件下热处理1h后,大部分SiC没有参与取代B位的反应。随着x的增大,线材中非超导相SiC和Mg的含量增加,MgB2的平均晶粒尺寸变小,从而使可作为磁通钉扎中心的晶界的面积相应增加。在外加磁场中,MgB2超导线材的临界电流密度(Jc)随x增大逐步升高,至x=0.10时Jc性能最好,其在6K,5T时的Jc达到了8480A/cm^2,比未掺杂线材的Jc高出约70%。但是,当x=0.20时,Jc却有所下降。Jc的这种变化规律与SiC掺杂引起的MgB2晶粒变小,以及非超导相物质含量之间的相互平衡有关,其中MgB2晶粒变小是Jc提高的主要原因。

关 键 词:MgB2超导线材 SiC掺杂 临界电流密度 显微结构
文章编号:1001-9731(2005)07-1021-03
修稿时间:2004-11-22

Effect of SiC doping on the critical current density and microstructure of MgB2/Fe wires
Xu hong-liang,FENG Yong,XU Zheng,CAO Lie-Zhao,LI Xiao-Guang,LIU Jing-yan. Effect of SiC doping on the critical current density and microstructure of MgB2/Fe wires[J]. Journal of Functional Materials, 2005, 36(7): 1021-1023
Authors:Xu hong-liang  FENG Yong  XU Zheng  CAO Lie-Zhao  LI Xiao-Guang  LIU Jing-yan
Affiliation:XU Hong-Liang~
Abstract:
Keywords:MgB_2 wire  SiC doping  critical current density  microstructure
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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