| 不同贮存环境下SCB电极塞的失效机理 |
| |
| 引用本文： | 李芳,张蕊,都振华,崔菲菲,周德鑫,王晟,付东晓,李庚. 不同贮存环境下SCB电极塞的失效机理[J]. 含能材料, 2015, 23(2): 168-172 |
| |
| 作者姓名： | 李芳 张蕊 都振华 崔菲菲 周德鑫 王晟 付东晓 李庚 |
| |
| 作者单位： | 1. 陕西应用物理化学研究所,陕西西安,710061
2. 海军装备部,北京,100841 |
| |
| 摘 要： | 为获取半导体桥(SCB)火工品在长贮过程中的失效模式和失效机理,用加速寿命试验、电阻试验和扫描电镜试验,研究了某不镀金SCB电极塞在不同环境下贮存前后的电阻和形貌变化。结果表明,单一温度(71℃)应力未导致SCB电极塞腐蚀和电阻增大。温湿度(80℃,RH=95%)应力导致SCB电极塞脚线的缓慢腐蚀和电阻的轻微增大。在温湿度(80℃,RH=95%)应力下,粘有盐水的SCB电极塞贮存后焊点出现严重腐蚀现象。得出了氯离子加速SCB电极塞的腐蚀,且焊点的腐蚀程度可用SCB电极塞阻值大小来判断的结论,即SCB电极塞的阻值越大,焊点的腐蚀程度越深。
|
| 关 键 词： | 火工品 SCB电极塞 加速寿命试验 腐蚀 |
| 收稿时间： | 2013-11-05 |
| 修稿时间： | 2014-04-04 |
Failure Mechanism of SCB Electrode Plugs under Different Storage Conditions |
| |
| LI Fang,ZHANG Rui,DU Zhen-hu,CUI Fei-fei,ZHOU De-xin,WANG Sheng,FU Dong-xiao and LI Geng. Failure Mechanism of SCB Electrode Plugs under Different Storage Conditions[J]. Chinese Journal of Energetic Materials, 2015, 23(2): 168-172 |
| |
| Authors: | LI Fang ZHANG Rui DU Zhen-hu CUI Fei-fei ZHOU De-xin WANG Sheng FU Dong-xiao LI Geng |
| |
| Affiliation: | LI Fang;ZHANG Rui;DU Zhen-hua;CUI Fei-fei;ZHOU De-xin;WANG Sheng;FU Dong-xiao;LI Geng;Shaanxi Applied Physics-Chemistry Research Institute;Equipment Department of PLA Navy; |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | initiator semiconductor bridge(SCB)electrode plugs accelerated life test corrosion |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《含能材料》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《含能材料》下载全文 |
|
