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MC-ICP-MS法测量铀同位素丰度UH峰校正方法研究
作者姓名:谢卫华  靳姗  陈禄敏  许杰  张海路
作者单位:中国工程物理研究院材料研究所,四川 绵阳 621900
摘    要:由于多接收电感耦合等离子体质谱(MC-ICP-MS)法具有基体耐受性强、精密度高和仪器测量快速的优点,使得采用MC-ICP-MS法分析铀同位素丰度的应用越来越广泛.但是,在MC-ICP-MS法测量铀同位素丰度的分析中,水溶液进样会产生UH多原子离子,而伴随235 U+产生的极微量235 UH+,在质荷比(m/Z)为 236 处与236U+形成质量双峰,这对于小丰度236 U的准确测量会产生干扰,影响236 U丰度测量的准确性.本文建立了针对小丰度236 U准确测定的UH校正方法,采用该校正方法测量铀同位素丰度,n(236 U)/n(235 U)丰度比测定下限为 4×10-6,测量n(236 U)/n(235 U)丰度比为2.20×10-5的样品时,相对传统热电离质谱法(TIMS)误差小于 3×10-6,相对标准偏差小于 4%.

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