首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

CeO_2/SiO_2复合磨粒抛光性能及机制研究
作者姓名:张强  黄国栋  赵永武  赵元元  王永光
作者单位:江南大学机械工程学院;
基金项目:国家自然科学基金项目(51005102);中央高校基本科研业务费专项基金项目(JUSRP10909;JUDCF13028);清华大学摩擦学国家重点实验室开放基金项目(SKLTKE10B04);教育部留学回国人员科研启动基金项目(20111139);江苏省普通高校研究生科研创新计划项目(CXZZ13_0738)
摘    要:为提高硅片抛光质量与效率,利用均相沉淀法制备CeO2/SiO2复合磨粒,配制绿色环保水基型抛光液对硅片进行化学机械抛光,研究pH值、抛光时间、抛光速度、抛光压力等抛光工艺参数对硅片抛光性能的影响。结果表明:随抛光液pH值增加,材料去除率相应增大;材料去除率在一定时间范围内随抛光时间增加而下降;材料去除量随抛光速度、抛光压力的增加均先增大后减小。推测CeO2/SiO2复合磨粒抛光机制为由于水合作用,在硅片表面形成一层易于磨削的软质层。

关 键 词:化学机械抛光  复合磨粒  抛光工艺参数  硅片  抛光机制
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号