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| 铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究 | |
| 引用本文： | 杨化中 郝恒信 等. 铝外壳Si（Au）面垒探测器受快中子辐照后性能恢复的研究[J]. 核技术, 1990, 13(1): 41-44 |
| 作者姓名： | 杨化中 郝恒信 等 |
| 作者单位： | 兰州大学 |
| 摘 要： | 本文研究了探测器经注量＜10^15n/cm^2的快中子辐照后，在重新加偏压过程中它们的反向电流猛增而使性能变坏的原因，然后采用慢加偏压的方式恢复了探测器的性能，延长了使用寿命。 |
| 关 键 词： | 快中子注量 偏压 探测器 快中子辐照 性能恢复 |
Recovery of Si(Au) detectors exposed to fast neutron radiation |
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| Yang Huazhong Hao Hengxin Gong Chengde. Recovery of Si(Au) detectors exposed to fast neutron radiation[J]. Nuclear Techniques, 1990, 13(1): 41-44 | |
| Authors: | Yang Huazhong Hao Hengxin Gong Chengde |
| Affiliation: | Lanzhou University |
| Abstract: | The reason why Si(Au) detectors deteriorate when rebiasing after exposed to a fast neutron flux up to 1013n/cm2 is studied experimentally. By slowly applying the bias, the performance of the detectors could be recovered and their service life be prolonged. |
| Keywords: | Fast neutron fluence Irradiation Bias Detectors |
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