| 偏振化能量色散X射线荧光光谱仪的新进展 |
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| 引用本文： | 谢荣厚.偏振化能量色散X射线荧光光谱仪的新进展[J].冶金分析,2004,24(Z1):217-218. |
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| 作者姓名： | 谢荣厚 |
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| 作者单位： | 德国斯派克分析仪器公司北京代表处,北京,100027 |
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| 摘 要： | 能量色散X射线荧光光谱仪,由于其仪器本身结构比较简单,X射线的分析线强度利用率高,又能同时接受所有X射线光谱,近年来逐渐被广泛采用.特别半导体技术飞跃发展,促使半导体探测器分辨能力的提高,目前商品化的Si(Li)漂移探测器在MnKα5.9 keV处和计数率在10000cps以下时,其能量分辨率已达157 eV,这样大大扩大它的使用.从长远观点看,1998年47届Denver会议上,美国国家标准技术研究院(NIST)提出3 eV微热量计(micro calorimeter),其能量分辨率几乎可达到波长色散水平.当然目前由于成本昂贵,还没有达到实用阶段,另外偏振化技术的应用,使谱线散射背景大大降低,使能量色散X射线荧光痕量分析已达μg/g级,并成为地质、环保、冶金材料的科研和生产主导分析方法之一.从1992年开始斯派克分析仪器公司就开始生产偏振化能量色散X射线荧光光谱仪.
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| 文章编号： | 1000-7571(2004)增-0217-02 |
Advances of polarized EDXRF spectroscopy |
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| XIE Rong-hou.Advances of polarized EDXRF spectroscopy[J].Metallurgical Analysis,2004,24(Z1):217-218. |
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| Authors: | XIE Rong-hou |
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