基于RTDS-GTNET的智能电子装置测试技术

RTDS和智能电子装置(Intelligent Electronic Device,IED)之间互连互通存在复杂、耗时、易出错、测试效率低等问题,为了提高IED的测试效率,本文提出了一种基于RTDS-GTNET的测试配置方法。首先介绍了基于RTDS的IED测试原理;然后描述了RTDS和被测IED之间通过SV报文和GOOSE报文实现互通的原理,及使用配置工具进行RTDS和被测IED之间互通配置的方法及配置过程;接着分析了GTNET板卡的ICD模型文件与国内规范存在的不同之处;最后以T接线路保护IED测试为例,利用RTDS-GTNET板卡构建了实时的闭环测试系统并对该IED进行了测试,分析了测试时GTNET板卡的分配、物理接线及其与被测IED的互通配置过程。研究结果表明,使用本文提出的方法进行GTNET与被测IED之间的互通连接,操作方便,提高了IED的测试效率。