首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

高能电子辐照导致氢化非晶硅的微晶化
引用本文:钟雨乐,黄君凯,刘伟平,李京娜.高能电子辐照导致氢化非晶硅的微晶化[J].辐射研究与辐射工艺学报,2001,19(2):144-147.
作者姓名:钟雨乐  黄君凯  刘伟平  李京娜
作者单位:1. 暨南大学电子工程系,
2. 烟台师范学院物理系,
基金项目:国务院侨办重点学科科学基金项目 (0 2 0 930 )资助
摘    要:氢化非晶硅 (a -Si:H)是无序硅网络中嵌入一定量H原子的非晶态硅—氢合金膜 ,结构上存在许多不稳定的弱Si-Si键及各种畸变键 ,在光、电老化过程中 ,它们会断裂或变形 ,导致缺陷态的增加 ,使材料性能变坏。a -Si:H微晶化后 ,这些缺点将得到有效的克服。结果发现 ,用 0 .3- 0 .5MeV、注入束流密度 1.3× 10 19cm- 2 s- 1的高能电子辐照 10 - 6 0 0s,a -Si:H膜会出现微晶化现象 ,晶粒大小为 10 - 2 0nm ,晶化层厚度为 2 5- 2 50nm

关 键 词:高能电子辐照  微晶化  氢化非晶硅
修稿时间:2000年6月22日

IRRADIATION OF ELECTRON WITH HIGH ENERGY INDUCED MICROCRYSTALLIZATION OF AMORPHOUS SILICON
ZHONG Yule,HUANG Junkai,LIU Weiping.IRRADIATION OF ELECTRON WITH HIGH ENERGY INDUCED MICROCRYSTALLIZATION OF AMORPHOUS SILICON[J].Journal of Radiation Research and Radiation Processing,2001,19(2):144-147.
Authors:ZHONG Yule  HUANG Junkai  LIU Weiping
Abstract:
Keywords:Irradiation of electron with high energy  Amorphous silicon  Microcrystallization
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号