| 隐藏在金相试样制备技术之后的科学 |
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| 引用本文： | 杨城. 隐藏在金相试样制备技术之后的科学[J]. 计算机与数字工程, 2015, 0(1): 137-141 |
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| 作者姓名： | 杨城 |
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| 作者单位： | 湖北航天技术研究院计量测试技术研究所 孝感 432000 |
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| 摘 要： | 现在,金相分析在破坏性物理分析(DPA)和失效分析试验中的应用已越来越广泛。金相试样制备的质量直接影响着金相分析试验结果是否准确,在极端情况下,不正确的操作可能得到的并不是"真实界面",从而得到错误的结论。所以,论文对隐藏在金相试样制备技术之后的科学展开研究。
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| 关 键 词： | 金相分析 金相试样制备技术 破坏性物理分析 失效分析 |
Science Behind Sample Preparation Technology |
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| YANG Cheng. Science Behind Sample Preparation Technology[J]. Computer and Digital Engineering, 2015, 0(1): 137-141 |
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| Authors: | YANG Cheng |
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| Affiliation: | YANG Cheng;The Metrology and Measurement Institute of Hubei Space Academy; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | metallographic analysis sample preparation technology DPA FA |
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