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| 基于软件过程度量的正交缺陷分类技术 | |
| 作者姓名： | 李新军 刘晓明 黄松 |
| 作者单位： | 解放军理工大学指挥自动化学院,南京,210007;解放军理工大学指挥自动化学院,南京,210007;解放军理工大学指挥自动化学院,南京,210007 |
| 摘 要： | 软件过程是否有效是评估软件产品质量和提高组织软件能力成熟度的重要依据。给出软件过程有效性量化测量的正交缺陷分类（ODC）技术。介绍ODC的概念、发展过程、总体结构和各种ODC缺陷属性的含义,阐述使用ODC度量开发和识别过程中的问题,对ODC的应用和实施进行分析与总结。 |
| 关 键 词： | 正交缺陷分类 软件过程度量 缺陷类型 |
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