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分步投影光刻机对准系统应用与研究
引用本文:吴成功.分步投影光刻机对准系统应用与研究[J].电子工业专用设备,2004,33(9):58-62.
作者姓名:吴成功
作者单位:中国电子科技集团公司第四十五研究所,北京,东燕郊,101601
摘    要:分步投影光刻设备对准系统是由嵌在工作台上的一组基准标记、一套离轴对准系统和一套掩模对准系统组成。当工作台上的基准标记运行到投影镜头下面时,通过掩模对准系统在预定范围内扫描测量标记位置值。当工作台上的基准标记或硅片上的标记运行到离轴对准系统测量光束下面时,用系统扫描可以测量出标记的坐标值。即可通过测量值计算出每个曝光场的中心坐标值。通过EGA对准数据,可计算出硅片的平移偏移量、旋转量、比例量和正交性量的补偿值。

关 键 词:离轴对准  基准标记  同轴对准  增强式选场对准
文章编号:1004-4507(2004)08-0058-05
修稿时间:2004年1月10日

Application and Research on Alignment System for Stepper
WU Cheng-gong.Application and Research on Alignment System for Stepper[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2004,33(9):58-62.
Authors:WU Cheng-gong
Abstract:An alignment system of step exposure apparatus comprises a group fiducial on wafer stage ? an off-axis alignment module and reticle alignment module. When a fiducial mark on the wafer stage is positioned directly under the projection lens , a presetting is performed so that measuring value by the reticle alignment module .when a fiducial mark on the wafer stage or a mark on the wafer is positioned directly under the off-axis alignment center ,the coordinates of the mark can be obtained. The center coordinates of each shot can be calculate by the alignment value .Through the EGA alignment data , the offset, rotation, scaling and orthogonal of wafer can be corrected.
Keywords:Off-Axis alignment  Fiducial  TTL  EGA
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