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| 用能量色散法分析碲镉汞 | |
| 引用本文： | 孙则.用能量色散法分析碲镉汞[J].激光与红外,1984(5). |
| 作者姓名： | 孙则 |
| 摘 要： | 引言Hg_(1-x)Cd_xTe的光谱响应主要取决于x值,即CdTe的摩尔份数。禁带宽度随x的变化为0.026eV/1％。沿晶片横向x值的偏差会使器件性能恶化,因此组份监测必须能区分出x值的很小差别,并且要有高的横向分辨率。器件制造商要求晶片截面上x值的偏差应小于0.004。凝固机理会造成大的x值偏差。NASA准备在失重条件下试验生长碲镉汞而进行的定向凝固研究表明,需要提供组份数据,以便了解对轴向和径向x值不均匀性带来的影响。因此致力于研究一种有用的技术。已经有好几种独特的技术被用于测定x |
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