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| 打造应用品牌 引领测控潮流——2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在京召开 | |
| 作者单位： | 北京中科泛华测控技术有限公司 |
| 摘 要： | 2006年1月7日,由国内测控界著名厂商——北京中科泛华测控技术有限公司主办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在北京九华山庄胜利召开。此次研讨会以现代测控系统技术应用为核心,结合美国国家仪器有限公司(NI)的虚拟仪器产品的热点应用与系统集成案例,由泛华、NI和其他应用方案提供商的专家向来自各行业的测控应用工程师们介绍了虚拟仪器系统的主流技术、发展方向以及应用市场和应用案例,为测控行业创造了一个极好的沟通渠道和交流平台。基于虚拟仪器技术的测控系统作为一种以计算机系统为核心、结合模块化测试测量设备的测试技术,以… |
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