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超高密度磁记录的课题与展望
引用本文:郭伟,赵争强,王飞.超高密度磁记录的课题与展望[J].信息记录材料,2004,5(3):49-54.
作者姓名:郭伟  赵争强  王飞
作者单位:1. 中国乐凯胶片集团公司,保定,071054
2. 中国人民银行保定中心支行,保定,071000
摘    要:介绍了超高密度记录的研究开发状况 ,论述了垂直磁记录技术的课题以及采用TMR磁头的、记录密度为Subterabit in2 的记录 读出特性。作为高密度记录所必需的头 盘界面技术 ,提出了接触记录技术的课题 ,还就STM (Scanningtunnelingmicroscopy)存储器论述了未来超高密度技术

关 键 词:垂直磁记录  TMR磁头  耐磨性  接触记录  STM存储器
文章编号:1009-5624(2004)03-0049-0006
修稿时间:2003年4月23日

Prospects and Subjects for High Recording Density
GUO Wei,ZHAO Zheng-qiang,WANG Fei.Prospects and Subjects for High Recording Density[J].Information Recording Materials,2004,5(3):49-54.
Authors:GUO Wei  ZHAO Zheng-qiang  WANG Fei
Affiliation:GUO Wei~1,ZHAO Zheng-qiang~2,WANG Fei~1
Abstract:The NEC’s research and development for ultra-high recording density is described.The subjects for perpendicular magnetic recording have been discussed.Read/write characteristics of Subterabit/in~2 high-density recording TMR (Tunneling magnetic resistance) head are estimated.Subjects for contact recording techniques and STM (Scanning tunneling microscopy)memory are also described.
Keywords:Perpendicular magnetic recording  TMR head  Pass wear resistance  Contact recording  STM memory
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