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高Tc SIS器件I—V特性的研究
引用本文:胡渝,冯稷.高Tc SIS器件I—V特性的研究[J].电子科技大学学报(自然科学版),1989(6).
作者姓名:胡渝  冯稷
作者单位:电子科技大学应用物理所
摘    要:本文以超导BCS理论为基础,利用二次量子化方法,并借助于格林函数和松原函数,得到了高Tc SIS器件在有限温度下的I-V特性及其数值计算结果。

关 键 词:超导  高Tc  SIS器件  有限温度  I-V特性
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