| 低介电损耗Ca1-xSrxMgSi2O6微波介质陶瓷的结构和介电性能 |
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| 引用本文： | 章国涛,高艳,刘书利,孟德喜,高娜燕,郑勇.低介电损耗Ca1-xSrxMgSi2O6微波介质陶瓷的结构和介电性能[J].材料导报,2023(4):72-76. |
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| 作者姓名： | 章国涛 高艳 刘书利 孟德喜 高娜燕 郑勇 |
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| 作者单位： | 1. 中科芯集成电路股份有限公司;2. 南京航空航天大学材料科学与技术学院 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(51674148)~~； |
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| 摘 要： | 本工作研究了Sr2+取代Ca2+对Ca1-xSrxMgSi2O6陶瓷烧结特性、物相组成、显微组织和微波介电性能的影响。结果表明：采用Sr2+取代部分Ca2+时可以降低陶瓷的烧结温度，并且提高陶瓷的致密度。当Sr2+取代量小于等于0.5时，陶瓷烧结体中只存在单一的CaMgSi2O6相。随着Sr2+取代量的增加，Ca1-xSrxMgSi2O6陶瓷的介电常数和品质因数均先增大后减小，而谐振频率温度系数逐渐增大。当Sr2+取代量为0.4时，Ca0.6Sr0.4MgSi2O6陶瓷在1 225℃下烧结...
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| 关 键 词： | 微波介质陶瓷 CaMgSi2O6 离子取代 介电性能 |
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