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线结构光多分辨率测量系统数据拼接方法
引用本文:张维光,韩军,周翔.线结构光多分辨率测量系统数据拼接方法[J].仪器仪表学报,2013,34(7):2-8.
作者姓名:张维光  韩军  周翔
作者单位:1. 西安工业大学光电工程学院 西安710021;西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室 西安 710049
2. 西安工业大学光电工程学院 西安710021
3. 西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室 西安 710049
基金项目:国家自然科学基金,西安市科技创新计划
摘    要:针对航空发动机叶片等复杂型面物体轮廓检测问题,应用多线结构光及多图像传感器,设计了可以实现被测对象整体轮廓及局部细节同时测量的多分辨率测量系统。提出一种基于二元经验模式分解的不同精度测量数据的拼接方法,利用二元经验模式分解方法将空间点集数据分解成一系列旋转信号分量,然后借助复小波变换对各旋转信号分量进行平滑处理,最后利用平滑后的旋转信号分量重构形成数据拼接曲线。实验结果表明,所提出的数据拼接方法可以从不同精度的复合信号中提取表征空间数据点集均值或趋势的光滑曲线,实现线结构光多分辨测量系统数据的高精度拼接,使测量系统在100 mm×100 mm测量范围内精度达到0.02 mm,达到了叶片工业现场的测量要求。

关 键 词:三维测量  数据拼接  线结构光  多分辨率  二元经验模式分解

Data registration method for multiresolution measurement system with line structured light
Zhang Weiguang , Han Jun , Zhou Xiang.Data registration method for multiresolution measurement system with line structured light[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2013,34(7):2-8.
Authors:Zhang Weiguang  Han Jun  Zhou Xiang
Affiliation:1.School of Optoelectronic Engineering,Xi’an Technological University,Xi’an 710021,China; 2.State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering,Xi’ an Jiaotong University,Xi’ an 710049,China)
Abstract:
Keywords:three-dimensional measurement  data registration  line structured light  multiresolution  bivariate empirical mode decomposition
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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