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电子束蒸发制备新型非晶半导体MgSnO薄膜
引用本文:何海英,偰正才,罗怡韵,夏远凤,牛憨笨.电子束蒸发制备新型非晶半导体MgSnO薄膜[J].光电子技术,2015,35(1).
作者姓名:何海英  偰正才  罗怡韵  夏远凤  牛憨笨
作者单位:深圳大学 光电工程学院光电子器件与系统(教育部/广东省)重点实验室,深圳,518060
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:采用电子束蒸发镀膜工艺制备一种新型非晶半导体MgSnO薄膜.薄膜在可见光区具有较高的透过率,其平均透过率范围在86.14~92.05%,薄膜的光学带隙随着Mg含量的增加而增大.霍尔效应测试表明MgSnO薄膜为n型半导体,Mg含量可在一定程度上控制薄膜的载流子浓度,MgSnO薄膜的载流子迁移率最高为1.59 cm2V-1s-1.

关 键 词:MgSnO薄膜  电子束蒸发  电学特性  光学特性

Novel Amorphous MgSnO Thin Films Prepared by E-beam Evaporation Technique
HE Haiying,XIE Zhengcai,LUO Yiyun,XIA Yuanfeng,NIU Hanben.Novel Amorphous MgSnO Thin Films Prepared by E-beam Evaporation Technique[J].Optoelectronic Technology,2015,35(1).
Authors:HE Haiying  XIE Zhengcai  LUO Yiyun  XIA Yuanfeng  NIU Hanben
Abstract:
Keywords:MgSnO thin film  e-beam evaporation  electrical property  optical property
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