| 微波单片集成电路测试技术研究 |
| |
| 引用本文： | 黄方祥.微波单片集成电路测试技术研究[J].电子质量,2022(4):30-32. |
| |
| 作者姓名： | 黄方祥 |
| |
| 作者单位： | 中航电光有限公司,河南洛阳471000 |
| |
| 摘 要： | 单片机集成环境主要应用于无线通信、雷达、电子测量等行业,近年来随着设备的发展,对机器的需求增加,对可靠性的要求也提高了.单片有源微波项目在国内尚处于起步阶段,没有相关的方法1].为了防止这种情况,该文通过测量有源损耗、1 dB压缩点、单组件侧分贝和放大器以及射频开关等关键参数来探索有源单片集成设备和微波测试技术.
|
| 关 键 词： | MMIC 微波参数测试 元器件可靠性 微波测试夹具 |
Research on Microwave Monolithic Integrated Circuit Testing Technology |
| |
| Huang Fang-xiang.Research on Microwave Monolithic Integrated Circuit Testing Technology[J].Electronics Quality,2022(4):30-32. |
| |
| Authors: | Huang Fang-xiang |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
