| 大功率晶闸管器件加速老化试验和寿命预测方法研究 |
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| 引用本文： | 张西应,曾文彬,操国宏,彭军华,孙文伟,刘雅岚.大功率晶闸管器件加速老化试验和寿命预测方法研究[J].电子质量,2022(5):64-68. |
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| 作者姓名： | 张西应 曾文彬 操国宏 彭军华 孙文伟 刘雅岚 |
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| 作者单位： | 株洲中车时代半导体有限公司,湖南株洲412000;新型功率半导体器件国家重点实验室,湖南株洲412000 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | 功率半导体器件 加速老化试验 寿命预测模型 疲劳失效 |
Research on Accelerated Aging Test and Life Prediction Methods of Power Thyristor Device |
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| Zhang Xi-ying,Zeng Wen-bin,Cao Guo-hong,Peng Jun-hua,Sun Wen-wei,Liu Ya-lan.Research on Accelerated Aging Test and Life Prediction Methods of Power Thyristor Device[J].Electronics Quality,2022(5):64-68. |
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| Authors: | Zhang Xi-ying Zeng Wen-bin Cao Guo-hong Peng Jun-hua Sun Wen-wei Liu Ya-lan |
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