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用微米千分尺测量塞尺片厚度的不确定度分析
引用本文:贾晓杰. 用微米千分尺测量塞尺片厚度的不确定度分析[J]. 中国测试技术, 2004, 30(5): 22-22
作者姓名:贾晓杰
作者单位:河南省计量科学研究院,河南,郑州,450008
摘    要:
塞尺是一种检验间隙用的薄片式量具 ,其应用十分广泛。根据JJG6 2 - 95《塞尺检定规程》中要求 ,塞尺尺片厚度采用卧式测长仪直接检定 ,其操作起来十分繁琐。在实践中 ,我们采用 3等量块作标准在微米千分尺上检定。分度值为 1μm的千分尺基在 0~ 2 5mm范围内的示值误差为± 3μm ,而塞尺片厚度为 (0~ 1)mm ,在其之间误差很小。测量时 ,塞尺片垫上 1mm量块 ,其偏差为 0 0 8μm (检定证书给出 ,量块长度偏差可忽略不计 )。微米千分尺在测量塞尺片的厚度时 ,其使用范围为 (1~ 2 )mm ,而实际上微米千分尺的示值误差非常小 ,如果知道微米千…

关 键 词:塞尺 厚度测量 不确定度 微米千分尺 检定

Analysis of uncertainty in micrometer measuring feeler gauge
Abstract:
Keywords:
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