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PSII法制备DLC膜的纳米摩擦性能研究
引用本文:李新,唐桢安,徐军,鲍海飞.PSII法制备DLC膜的纳米摩擦性能研究[J].真空,2007,44(5):29-31.
作者姓名:李新  唐桢安  徐军  鲍海飞
作者单位:1. 沈阳工业大学,辽宁,沈阳,110023;大连理工大学,辽宁,大连,116024
2. 大连理工大学,辽宁,大连,116024
3. 中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海,200050
摘    要:微机电系统(MEMS)的研究引起了人们的极大关注,摩擦行为是影响MEMS性能的关键因素之一.本文采用等离子源离子注入(PSII)技术在硅衬底上制备薄膜,利用Raman光谱表征制备薄膜的类金刚石特性.详细介绍了采用原子力显微镜(AFM)进行纳米摩擦实验的原理,并利用其研究制得DLC膜的纳米摩擦特性.研究结果表明,制得DLC膜的摩擦系数较小,具有耐磨损性能,而且反应气体流量对薄膜的纳米摩擦特性有较大影响.PSII技术制备的DLC膜具有较好的纳米摩擦特性,并有望使可动MEMS的摩擦问题得到真正意义上的突破.

关 键 词:类金刚石膜  原子力显微镜  纳米摩擦  等离子源离子注入
文章编号:1002-0322(2007)05-0029-03
修稿时间:2006-11-10

On the nanotribology of DLC thin films prepared by PSII
LI Xin,TANG Zhen-an,XU Jun,BAO Hai-fei.On the nanotribology of DLC thin films prepared by PSII[J].Vacuum,2007,44(5):29-31.
Authors:LI Xin  TANG Zhen-an  XU Jun  BAO Hai-fei
Affiliation:1. Shenyang University of Technology, Shenyang 110023,China; 2. Dalian University of Technology, Dalian 116024, China ; 3. Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050 ,China
Abstract:
Keywords:
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