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弹载计算机通用阻抗测试仪设计
引用本文:何宴辉,彭博.弹载计算机通用阻抗测试仪设计[J].计算机测量与控制,2015,23(9):3251-3253.
作者姓名:何宴辉  彭博
作者单位:上海航天电子技术研究所,上海 201109,上海航天电子技术研究所,上海 201109
摘    要:针对弹载计算机类产品在出厂交付和故障排除中信号阻抗需要高效测试的要求,文章描述了一种通用阻抗测试仪的实现方法;利用ARM微处理器来控制继电器矩阵切换信号点,并通过配置不同的上位机软件实现了多品种弹载计算机产品的阻抗自动测试,提高了阻抗测试效率,同时避免了人工测试容易误操作的问题;经过某型号弹载计算机试用,该测试仪能够将阻抗测试时间缩短到人工测试的1/9,且全程测试无错误,达到了弹载计算机信号阻抗快速可靠测试的目的。

关 键 词:阻抗测试  弹载计算机  继电器矩阵  [HJ1.35mm]
收稿时间:2015/7/21 0:00:00
修稿时间:2015/7/31 0:00:00

Design of Universal Impedance Test Apparatus for Missile Computer System
He Yanhui and Peng Bo.Design of Universal Impedance Test Apparatus for Missile Computer System[J].Computer Measurement & Control,2015,23(9):3251-3253.
Authors:He Yanhui and Peng Bo
Abstract:
Keywords:
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