| 超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法 |
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| 引用本文： | 刘宇翔,张战刚,杨凯歌,雷志锋,黄云,恩云飞. 超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法[J]. 微电子学, 2018, 48(4): 548-554 |
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| 作者姓名： | 刘宇翔 张战刚 杨凯歌 雷志锋 黄云 恩云飞 |
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| 作者单位： | 工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610;华南理工大学 电子与信息学院, 广州510641,工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610,工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610,工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610,工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610,工业和信息化部 电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室, 广州 510610 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(11505033) |
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| 摘 要： | ![]()
建立了一种28 nm HPL硅工艺超大规模SRAM型FPGA的单粒子效应测试方法。采用静态测试与动态测试相结合的方式,通过ps级脉冲激光模拟辐照实验,对超大规模FPGA进行单粒子效应测试。对实验所用FPGA的各敏感单元(包括块随机读取存储器、可配置逻辑单元、可配置存储器)的单粒子闩锁效应和单粒子翻转极性进行了研究。实验结果证明了测试方法的有效性,揭示了多种单粒子闩锁效应的电流变化模式,得出了各单元的单粒子效应敏感性区别。针对块随机读取存储器、可配置逻辑单元中单粒子效应翻转极性的差异问题,从电路结构方面进行了机理分析。
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| 关 键 词： | FPGA 单粒子效应 脉冲激光 辐照测试 单粒子翻转极性 |
| 收稿时间： | 2017-08-26 |
Single Event Pulse Laser Testing Method of Ultra-Scale FPGA |
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| LIU Yuxiang,ZHANG Zhangang,YANG Kaige,LEI Zhifeng,HUANG Yun and EN Yunfei. Single Event Pulse Laser Testing Method of Ultra-Scale FPGA[J]. Microelectronics, 2018, 48(4): 548-554 |
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| Authors: | LIU Yuxiang ZHANG Zhangang YANG Kaige LEI Zhifeng HUANG Yun EN Yunfei |
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| Affiliation: | Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China;College of Electronics and Information Engineering, South China University of Technology, Guangzhou 510641, P.R.China,Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China,Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China,Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China,Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China and Key Laboratory of Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component,Fifth Research Institute of Ministry of Industry and Information Technology, Guangzhou 510610, P.R.China |
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| Abstract: | ![]()
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