高温退火对AlN外延材料晶体质量的影响 |
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引用本文: | 罗伟科,王翼,李亮,李传皓,张东国,杨乾坤,彭大青,李忠辉.高温退火对AlN外延材料晶体质量的影响[J].固体电子学研究与进展,2024(2):167-172. |
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作者姓名: | 罗伟科 王翼 李亮 李传皓 张东国 杨乾坤 彭大青 李忠辉 |
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作者单位: | 1. 南京电子器件研究所 |
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基金项目: | 江苏省重点研发计划资助项目(BE2020004); |
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摘 要: | 采用高温退火技术改善金属有机物化学气相沉积AlN薄膜材料晶体质量。研究发现较低的生长温度下,Al原子迁移能力弱,外延呈岛状生长模式,形成大量的柱状晶粒,晶粒倾斜、扭曲,晶格原子排列混乱,存在大量的位错和层错缺陷;高温退火时晶格发生重构,晶粒合并,位错和层错缺陷减少,晶格排列整齐,晶体质量得到提升。通过优化生长温度和退火温度,获得了高质量的200 nm厚AlN模板,其(002)和(102)面的X射线双晶衍射摇摆曲线半高宽分别为107 arcsec和257 arcsec,位错密度比退火前降低了2~3个数量级。
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关 键 词: | 高温退火 氮化铝 晶体质量 金属有机物化学气相沉积 |
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