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高温退火对AlN外延材料晶体质量的影响
引用本文:罗伟科,王翼,李亮,李传皓,张东国,杨乾坤,彭大青,李忠辉.高温退火对AlN外延材料晶体质量的影响[J].固体电子学研究与进展,2024(2):167-172.
作者姓名:罗伟科  王翼  李亮  李传皓  张东国  杨乾坤  彭大青  李忠辉
作者单位:1. 南京电子器件研究所
基金项目:江苏省重点研发计划资助项目(BE2020004);
摘    要:采用高温退火技术改善金属有机物化学气相沉积AlN薄膜材料晶体质量。研究发现较低的生长温度下,Al原子迁移能力弱,外延呈岛状生长模式,形成大量的柱状晶粒,晶粒倾斜、扭曲,晶格原子排列混乱,存在大量的位错和层错缺陷;高温退火时晶格发生重构,晶粒合并,位错和层错缺陷减少,晶格排列整齐,晶体质量得到提升。通过优化生长温度和退火温度,获得了高质量的200 nm厚AlN模板,其(002)和(102)面的X射线双晶衍射摇摆曲线半高宽分别为107 arcsec和257 arcsec,位错密度比退火前降低了2~3个数量级。

关 键 词:高温退火  氮化铝  晶体质量  金属有机物化学气相沉积
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