| 单片机的电磁抗扰度仿真与实验研究? |
| |
| 引用本文： | 孙朕,郝长峰.单片机的电磁抗扰度仿真与实验研究?[J].单片机与嵌入式系统应用,2015(6). |
| |
| 作者姓名： | 孙朕 郝长峰 |
| |
| 作者单位： | 河南省高远公路养护技术有限公司,新乡,453003 |
| |
| 基金项目： | 国家国际科技合作专项项目，交通运输部西部交通建设科技项目 |
| |
| 摘 要： | 针对单片机的电磁兼容问题，采用了实验和仿真相结合的方式，研究了单片机的电磁抗扰度。首先利用 DPI法测试单片机的电磁抗扰度，其次提出了一种基于DPI的单片机电磁抗扰度 ICEM模型，利用 IC EMC仿真软件在不同的频率下对单片机的内核电压进行仿真，结果表明在低频段仿真结果和实验测试结果一致性较好，使用该模型可以对单片机的电磁抗扰度进行预测。
|
| 关 键 词： | 电磁兼容 DPI 电磁抗扰度 |
MicrocontroIIer EIectromagnetic Immunity SimuIation and ExperimentaI Study |
| |
| Sun Zhen,Hao Changfeng.MicrocontroIIer EIectromagnetic Immunity SimuIation and ExperimentaI Study[J].Microcontrollers & Embedded Systems,2015(6). |
| |
| Authors: | Sun Zhen Hao Changfeng |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | electromagnetic compatibility DPI electromagnetic immunity |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
