| 蓝宝石单晶的质量评价及检验方法 |
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| 引用本文： | 张学军,杨鑫宏,李铁.蓝宝石单晶的质量评价及检验方法[J].中国材料科技与设备,2014(4):90-92. |
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| 作者姓名： | 张学军 杨鑫宏 李铁 |
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| 作者单位： | 哈尔滨奥瑞德光电技术股份有限公司,黑龙江哈尔滨150431 |
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| 摘 要： | 针对目前蓝宝石单晶在半导体衬底、激光窗口等方面的广泛应用，本文主要介绍了光学级蓝宝石单晶（包括晶棒、晶片或晶块）的内部质量要求及作为LED衬底应用所需进行的质量检验。
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| 关 键 词： | 蓝宝石 缺陷 检验方法 |
Sapphire Quality Evaluation and Inspect Method |
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| ZHANG Xue --jun,YANG Xin --hong,LI Tie.Sapphire Quality Evaluation and Inspect Method[J].Chinese Materials Science Technology & Equipment,2014(4):90-92. |
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| Authors: | ZHANG Xue --jun YANG Xin --hong LI Tie |
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| Affiliation: | (Harbin Aurora Optoelectronics Technology Co. , Ltd. , Heilongjiang, Harbin, 150431, China) |
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| Abstract: | In view of the present sapphire is widely used in the semiconductor substrate, laser window et al, this article mainly introduced the quality requirements of optical sapphire （including ingot, wafer and block） used as LED substrates and the inspect methods for internal defects. |
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| Keywords: | Sapphire Defect Test method |
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