| 电子元器件的失效分析技术 |
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| 引用本文： | 吕俊霞. 电子元器件的失效分析技术[J]. 印制电路信息, 2008, 0(7): 52-55 |
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| 作者姓名： | 吕俊霞 |
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| 作者单位： | 河南工业职业技术学院,河南,南阳,473009 |
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| 摘 要： | 失效分析是电子元器件的质量和可靠性保证体系的重要组成部分。电子元器件的可靠性是评价可靠性能水平的重要手段，是可靠性研究的基本环节，分析了电子元器件的失效原因。
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| 关 键 词： | 电子 元器件 失效 故障 |
Failure Analysis for Electronic Devices |
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| LV Jun-xia. Failure Analysis for Electronic Devices[J]. Printed Circuit Information, 2008, 0(7): 52-55 |
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| Authors: | LV Jun-xia |
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| Abstract: | The expiration analysis is the electronic primarydevice quality and the reliable guarantee system importantconstituent. The electronic primary device reliability is theappraisal reliable performance capability important method, is thereliable research basic link. Has analyzed the electronic primarydevice expiration reason. |
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| Keywords: | electron the primary device expires breakdown |
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