模拟大规模集成电路测试及测试系统

近几年来,随着IC技术和计算机技术的迅猛发展,一些大型的IC测试系统不断被研制出来,并投入市场,成为大规模集成电路(LSI)和超大规模集成电路(VLSI)生产中不可缺少的重要设备.对于数字型大规模集成电路的测试及测试系统,近几年来国内的一些杂志和学习班都有比较详细的讨论和论述,而对模拟大规模集成电路的测试及测试系统的论述却不多见.本文主要叙述了模拟IC测试仪的发展概况,模拟IC的测试原理,模拟大规模集成电路CAT系统的构成及各主要部分的作用,并对模拟LSI的AC(交流)、DC(直流)测试系统进行了比较和分类,最后对模拟LSI和VLSI测试系统的发展进行了展望.