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未掺杂CdZnTe与掺铟CdZnTe晶体的热处理
引用本文:张斌,桑文斌,李万万,闵嘉华. 未掺杂CdZnTe与掺铟CdZnTe晶体的热处理[J]. 半导体学报, 2004, 25(11): 1447-1452
作者姓名:张斌  桑文斌  李万万  闵嘉华
作者单位:上海大学嘉定校区电子信息材料系 上海201800(张斌,桑文斌,李万万),上海大学嘉定校区电子信息材料系 上海201800(闵嘉华)
摘    要:对于未掺杂Cd0.9Zn0.1Te晶片,采用在Cd/Zn气氛下,以In作为气相掺杂源进行热处理;而对于低阻In-Cd0.9Zn0.1Te晶片,则采用在Te气氛下进行热处理.分别研究了不同的热处理条件,包括温度、时间、pIn或pTe等对晶片电学性能、红外透过率以及Te夹杂/沉淀相的影响.结果表明,在Cd/Zn气氛下适当的掺In热处理和在Te气氛下适当的热处理均有效地提高了晶片的电阻率,分别达到2.3×1010和5.7×109Ω·cm,同时晶片的其他性能也得到明显改善.

关 键 词:CdZnTe  气相掺杂  热处理  Te气氛
文章编号:0253-4177(2004)11-1447-06
修稿时间:2003-10-24

Annealing of In-Diffused and In-Doped CdZnTe
Zhang Bin,Sang Wenbin,Li Wanwan and Min Jiahua. Annealing of In-Diffused and In-Doped CdZnTe[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2004, 25(11): 1447-1452
Authors:Zhang Bin  Sang Wenbin  Li Wanwan  Min Jiahua
Abstract:
Keywords:CdZnTe  gas-doping  annealing  Te vapor
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